"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Измерение показателя экстинкции диэлектрических пленок на основе спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения
Переводная версия: 10.1134/S1063785018080278
Nguyen V.B.1, Губанова Л.А.1
1Национальный исследовательский университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: thulavang@gmail.com
Поступила в редакцию: 16 января 2018 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2018 г.

Рассмотрены различные методы измерения показателя ослабления излучения в оптических покрытиях. Показана возможность измерения безразмерного показателя ослабления излучения для покрытий, формирующихся из слабопоглощающих пленкообразующих материалов, с помощью приставки в виде призмы-параллелепипеда. Параметры данной приставки рассчитаны так, чтобы ее можно было разместить в стандартных спектрофотометрах.
  1. Котликов Е.Н., Андреев В.М., Лавровская Н.П., Новикова Ю.А., Тропин А.Н. Оптика лазеров. СПб.: ГУАП, 2013. 123 с
  2. Нгуен В.Б., Губанова Л.А. // Опт. журн. 2016. Т. 83. N 12. С. 31--35
  3. Ефимов А.М. Оптические свойства материалов и механизмы их формирования. СПб.: ИТМО, 2008. 103 с
  4. Borgogno J.P., Pelletier E. // Appl. Opt. 1989. V. 28. N 4. P. 2895--2901
  5. Djurisic A.B., Fritz T., Leo K., Li E.H. // Appl. Opt. 2000. V. 39. N 7. P. 1174--1182
  6. King S.W., Milosevic M. // J. Appl. Phys. 2012. V. 111. N 7. P. 073109 (1-9)
  7. Tompkins H.G., Irene E.A. Handbook of ellipsometry. N.Y.: William Andrews, 2005. 891 p
  8. Харрик Н. Спектроскопия внутреннего отражения / Пер. с англ. под ред. В.А. Никитина. М.: Мир, 1976. 330 с
  9. Zhu S., Yu A.W., Hawley D., Roy R. // Am. J. Phys. 1986. V. 54. N 7. P. 601--606
  10. Путилин Э.С., Губанова Л.А. Оптические покрытия. СПб.: Лань, 2016. 268 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.