"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Новый высокочувствительный рентгеновский метод определения локальных деформаций поверхности кристаллов с помощью "изгибных интерференционных полос"
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 09-02-00731-а
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 08-03-00498-а
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 06-02-16536-а
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 03-02-17486-а
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 00-02-17314-а
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 00-02-17307-а
Суворов Э.В.1, Смирнова И.А.1
1Институт физики твердого тела Российской академии наук, Черноголовка, Московская обл., Россия
Email: suvorov@issp.ac.ru
Поступила в редакцию: 30 марта 2016 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2016 г.

Предложен новый высокочувствительный метод для исследования локальных деформаций поверхности, обусловленных дефектами кристаллов. Метод основан на анализе формы "интерференционных деформационных полос" в геометрии брэгговской дифракции рентгеновских лучей. Полученные результаты показывают, что метод "интерференционных полос" позволяет количественно оценивать очень слабые локальные деформации поверхности. Показано, что удается измерять локальные изгибы кристаллографических плоскостей от десятков до нескольких сотен метров.
  1. Zaumseil P. // Krist. Tech. 1978. V. 13. P. 983
  2. Шульпина И.Л., Петрашень П.В., Чуховский Ф.Н., Габриэлян К.Т. // Тез. докл. IV Всесоюзного совещания "Дефекты структуры в полупроводниках". Новосибирск: Изд-во СО АН СССР, 1984. Т. 2. С. 114
  3. Петрашень П.В., Чуховский Ф.Н., Шульпина И.Л., Кютт Р.Н. // ФТТ. 1987. Т. 29. В. 5. С. 1608--1611
  4. Chukhovskii F.N., Petrashen' P.V. // Acta Cryst. A. 1988. V. 44. P. 8
  5. Tomoe Fukamachi, Masahiko Tohyama et al. // Acta Cryst. A. 2010. V. 66. P. 421
  6. Yan H., Kalenci O., Noyn I.C. // J. Appl. Cryst. 2007. V. 40. P. 322
  7. Смирнова И.А., Суворов Э.В., Шулаков Е.В. // ФТТ. 2011. Т. 53. B. 1. С. 35
  8. Sukswat Jongsukswat, Tomoe Fukamachi, Dongying Ju. // J. Appl. Cryst. 2013. V. 46. P. 1
  9. Суворов Э.В., Смирнова И.А. // Труды XIX Междунар. симпоз. "Нанофизика и наноэлектроника". Нижний Новгород, Россия, 2015. Т. 1. С. 376--377
  10. Смирнова И.А., Суворов Э.В. // Сб. материалов VII Междунар. науч. семинара "Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики". Великий Новгород, Россия, 2015. С. 226--229
  11. Смирнова И.А., Суворов Э.В., Шулаков Е.В. // ФТТ. 2007. Т. 49. B. 6. С. 1050--1055
  12. Суворов Э.В., Смирнова И.А., Образова А.С. // ПТЭ. 2015. N 1. С. 178--180

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.