Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Проявление размерного квантования на выступах шероховатой поверхности полупроводников A3B5
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия 
Email: v7021961@yandex.ru
Поступила в редакцию: 17 июня 2015 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2015 г.
Проведено экспериментальное исследование автоэлектронной эмиссии из субмикронных выступов шероховатой поверхности образцов полупроводников группы A3B5: InSb, InAs, GaAs. Показано, что для полупроводниковых образцов InSb и InAs наблюдаемые пики на дифференциальных туннельных ВАХ могут быть интерпретированы как проявление размерного квантования энергетического спектра электронов проводимости. Для GaAs проявления размерного квантования на дифференциальных туннельных ВАХ в условиях эксперимента выявлено не было. По результатам анализа экспериментальных данных проведена оценка характерного размера квантового объекта, сформированного на выступах шероховатой поверхности InSb и InAs.
- Михайлов А.И., Кабанов В.Ф., Жуков Н.Д. // Письма в ЖТФ. 2015. Т. 41. В. 12. С. 8--14
- Жуков Н.Д., Глуховской Е.Г. // Нанотехника. 2014. В. 2. С. 127--131
- Сканирующий зондовый микроскоп. НАНОЭДЬЮКАТОР-I: Руководство по эксплуатации. 2012. Copyright © "НТ-МДТ". http://www.ntmdt.ru
- Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. / Российская академия наук. Институт физики микроструктур. Нижний Новгород, 2004. 110 с
- Драгунов В.П., Неизвестный И.Г., Гридчин В.А. Основы наноэлектроники: Учебное пособие. М.: Университетская книга; Логос; Физматкнига, 2006. 496 с
- Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела: Учебное пособие / В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин; под ред. В.Д. Бормана: М.: МИФИ, 2008. 260 с
- Демиховский В.Я., Филатов Д.О. Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии: Учебно-методический материал по программе повышения квалификации "Физико-химические основы нанотехнологий". Нижний Новгород, 2007. 77 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
