"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Проявление размерного квантования на выступах шероховатой поверхности полупроводников A3B5
Михайлов А.И.1, Кабанов В.Ф.1, Жуков Н.Д.1
1Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия
Email: v7021961@yandex.ru
Поступила в редакцию: 17 июня 2015 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2015 г.

Проведено экспериментальное исследование автоэлектронной эмиссии из субмикронных выступов шероховатой поверхности образцов полупроводников группы A3B5: InSb, InAs, GaAs. Показано, что для полупроводниковых образцов InSb и InAs наблюдаемые пики на дифференциальных туннельных ВАХ могут быть интерпретированы как проявление размерного квантования энергетического спектра электронов проводимости. Для GaAs проявления размерного квантования на дифференциальных туннельных ВАХ в условиях эксперимента выявлено не было. По результатам анализа экспериментальных данных проведена оценка характерного размера квантового объекта, сформированного на выступах шероховатой поверхности InSb и InAs.
  1. Михайлов А.И., Кабанов В.Ф., Жуков Н.Д. // Письма в ЖТФ. 2015. Т. 41. В. 12. С. 8--14
  2. Жуков Н.Д., Глуховской Е.Г. // Нанотехника. 2014. В. 2. С. 127--131
  3. Сканирующий зондовый микроскоп. НАНОЭДЬЮКАТОР-I: Руководство по эксплуатации. 2012. Copyright © "НТ-МДТ". http://www.ntmdt.ru
  4. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. / Российская академия наук. Институт физики микроструктур. Нижний Новгород, 2004. 110 с
  5. Драгунов В.П., Неизвестный И.Г., Гридчин В.А. Основы наноэлектроники: Учебное пособие. М.: Университетская книга; Логос; Физматкнига, 2006. 496 с
  6. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела: Учебное пособие / В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин; под ред. В.Д. Бормана: М.: МИФИ, 2008. 260 с
  7. Демиховский В.Я., Филатов Д.О. Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии: Учебно-методический материал по программе повышения квалификации "Физико-химические основы нанотехнологий". Нижний Новгород, 2007. 77 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.