"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Картирование интенсивности излучения лазерного диода методом атомно-силовой микроскопии
Алексеев П.А., Дунаевский М.С., Слипченко С.О., Подоскин А.А., Тарасов И.С.
Поступила в редакцию: 26 марта 2015 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2015 г.

Исследовано распределение интенсивности излучения лазерного диода по оригинальной методике, основанной на атомно-силовой микроскопии. Показана возможность картирования интенсивности излучения в ближнем поле и переходной зоне мощного полупроводникового лазера в комнатных условиях с субволновым пространственным разрешением. Полученные картины распределения интенсивности согласуются с данными моделирования и результатами, полученными ближнепольной оптической микроскопией.
  1. Lucas M., Reido E. // Rev. Sci. Instrum. 2012. V. 83. P. 061 101 (35 p.)
  2. Dunaevskiy M.S., Alekseev P.A., Baranov A.N. et al. // Appl. Phys. Lett. 2013. V. 103. P. 053 120 (4 p.)
  3. Dunaevskiy M., Dontsov A., Alekseev P. et al. // Appl. Phys. Lett. 2015. V. 106. P. 171 105 (5 p.)
  4. Слипченко С.О., Бондарев А.Д., Винокуров Д.А. и др. // ФТП. 2009. Т. 43. В. 1. С. 119--123
  5. Ankudinov A.V., Yanul M.L., Slipchenko S.O. et al. // Optics Express. 2014. V. 22 (21). P. 26438--26448
  6. Слипченко С.О., Винокуров Д.А., Пихтин Н.А. и др. // ФТП. 2004. Т. 38. В. 12. С. 1477--1486

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.