"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Контроль качества композитных дифракционных элементов с возможностью визуализации дефектов отдельных компонент
Ляликов А.М.1
1Гродненский государственный университет им. Я. Купалы, Гродно, Беларусь
Email: amlialikov@grsu.by
Поступила в редакцию: 10 февраля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2015 г.

Обоснована возможность разделения информации о дефектах подложки и периодической микроструктуры при их визуализации для композитного дифракционного элемента. Впервые показано, что с использованием двухлучевого интерферометра, дополненного оптической системой пространственной фильтрации, для такого дифракционного элемента возможно раздельное отображение в интерференционных картинах как макроскопических дефектов подложки, так и самой дифракционной микроструктуры.
  1. Денисюк И.Ю., Бурункова Ю.Э., Тибилов А.С., Семьина С.А., Булгаков В.Г. // Оптический журнал. 2013. Т. 80. N 3. С. 97--91
  2. Viegas D, Carvalho J. P., Coelho L, Santos J. L, Araujo F.M., Frazao O. // IEEE Photonics Technology Letters. 2010. V. 22. N 20. P. 1533--1535
  3. Liao C.R., Wang D.N. // Photonic Sensors. 2013. V. 3. N 2. P. 97--101
  4. Liu N., Guo H., Fu L., Kaiser S., Schweizer H., Giessen H. // Nature Materials. 2008. V. 7. P. 31--37
  5. Кабанова О.С., Мельникова Е.А., Оленская И.И., Толстик А.Л. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. В. 14. С. 30--35
  6. Оптический производственный контроль / Под ред. Д. Малакары. М.: Машиностроение, 1985. 400 с
  7. Ляликов А.М. // Квантовая электроника. 2010. Т. 40. N 12. С. 1141--1145
  8. Кольер Р., Беркхарт К., Лин. Л. Оптическая голография. М.: Мир, 1973. 686 с
  9. Бекетова А.К., Белозеров А.Ф., Березкин А.Н. и др. Голографическая интерферометрия фазовых объектов. Л.: Наука, 1979. 232 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.