Вышедшие номера
Полевая эмиссионная накачка наногетероструктуры ZnSe/CdSe/ZnSe электронами низких энергий через поверхностный потенциальный барьер
Масалов С.А.1, Коротченков А.В.1, Евтихиев В.П.1, Сорокин С.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: sergeym@mail.com
Поступила в редакцию: 26 сентября 2014 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2014 г.

Исследовалась планарная структура МДП с диэлектрическим барьером MgSe. Для инжекции горячих электронов в широкозонную наногетероструктуру ZnSe/CdSe/ZnSe использовалась полевая электронная эмиссия из металлического электрода. Определены средние величины параметров потенциального барьера на границе металл-диэлектрик. Экспериментально обнаружено, что площадь протекания эмиссионного тока существенно меньше площади металлического электрода. Это может быть связано с эффектом "шнурования" тока, протекающего через неоднородный тонкий слой диэлектрика. Показано, что для улучшения стабильности характеристик структуры МДП необходимо создание высококачественного однородного потенциального барьера. Оцененная максимальная локальная плотность эмиссионного тока Imax=~ 103 A/cm2 является достаточной для получения условий генерации излучения в гетероструктуре. Поэтому предложенный метод накачки может быть использован для создания лазеров на основе широкозонных полупроводниковых гетероструктур без p-n-переходов.