Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Экспериментальное определение напряженностей испаряющих электрических полей для наноразмерных полевых эмиттеров ионов
Голубев О.Л.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: O.Golubev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 16 июля 2014 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2014 г.
Описывается оригинальная методика определения величин напряженностей испаряющих полей Fev для полевых эмиттеров. Методика является универсальной и пригодна для любых эмиттеров, в том числе и для наноразмерных выступов, выращенных на поверхности таких эмиттеров для усиления локализации эмиссии. Приведены примеры определения величин Fev для эмиттеров из некоторых металлов и проанализированы ограничения методики.
- Голубев О.Л. // ЖТФ. 2011. Т. 81. В. 6. С. 113--119
- Niels De Jonge // J. Appl. Phys. 2004. V. 95. N 2. P. 673--681
- Голубев О.Л., Блашенков Н.М., Лаврентьев Г.Я. // ЖТФ. 2007. Т. 77. В. 10. С. 11--15
- Голубев О.Л., Логинов М.В. // ЖТФ. 2006. Т. 76. В. 9. С. 107--114
- Мюллер Э.В., Цонг Т.Т. Полевая ионная микроскопия, полевая ионизация, полевое испарение. М.: Наука, 1980. 217 с
- Шредник В.Н. // Ненакаливаемые катоды. М.: Сов. радио, 1974. С. 165--321
- Мюллер Э., Цонь Т. Автоионная микроскопия. М.: Металлургия, 1972. 360 с
- Rabinovich A.A. // Surf. Sci. 1978. V. 70. P. 181--185
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
