К вопросу о спектральном разрешении фокусирующего Брэгг-спектрометра
Чен Т.1
1Московская государственная академия тонкой химической технологии им. М.В. Ломоносова
Email: docent65@mtu-net.ru
Поступила в редакцию: 12 апреля 2002 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2002 г.
Проведено теоретическое исследование влияния профиля интенсивности волны, сфокусированной изогнутым кристаллом, на разрешение фокусирующего брэгговского спектрометра, динамически отражающего жесткое рентгеновское излучение (lambda~ 1Angstrem). Обсуждается брэгговский нефокусирующий спектрометр на основе плоского кристалла в сравнении с фокусирующим спектрометром. Формулируются условия разрешимости спектральных линий для обоих типов спектрометров.
- Holzer G., Wehrhan O., Heinish J. et al. // Phys. Scripta. 1998. V. 57. P. 301--309
- Holzer G., Wehrhan O., Forster E. // Cryst. Res. Technol. 1998. V. 33. P. 555--567
- Renner O., Mibetaalla T., Sondhaubeta P. et al. // Rev. Sci. Instr. 1997. V. 68. P. 2393--2403
- Hamalainen K., Krish M., Kao C.C. et al. // Rev. Sci. Instr. 1995. V. 66. P. 1525--1527
- Lehnert U., Zschornack G. // Journal of X-Ray Sc. and Techn. 1996. V. 6. P. 83--93
- Fraenkel B.S., Bitter M., Von Goeler S., Hill K. // Journal of X-Ray Sc. and Techn. 1998. V. 8. P. 171
- Holzer G., Forster E., Gratz M. et al. // Journal of X-Ray Sc. and Techn. 1998. V. 8. P. 50
- Брызгунов В.А. // ЖТФ. 2000. Т. 70. С. 49--51
- Латуш Е.М., Мазурицкий М.И. // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28. В. 1. С. 49--53
- Латуш Е.М., Мазурицкий М.И. // Письма в ЖТФ. 2002. Т. 28. В. 4. С. 35--40
- Габриелян К.Т., Чуховский Ф.Н., Пискунов Д.И. // ЖЭТФ. 1989. Т. 96. В. 3 (9). С. 834--846
- Чен Т. // ЖТФ. 2002. Т. 72. B. 7. С. 92--94
- Габриелян К.Т., Чуховский Ф.Н., Пинскер З.Г. // ЖТФ. 1980. В. 8. С. 1641--1646
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.