Влияние легирующей примеси на электронные свойства поверхности углеродных пленок
Симонов С.В.1, Суздальцев С.Ю.1, Яфаров Р.К.1
1Саратовское отделение Института радиотехники и электроники РАН
Email: pirpс@renet.ru
Поступила в редакцию: 19 февраля 2002 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2002 г.
Показано влияние легирования кадмием и низкоэнергетичной обработки в аргоновой плазме на эмиссионную способность углеродных пленок, полученных в микроволновой плазме газового разряда. Получены токи эмиссии с плотностью 0.3 A/cm2 при напряженности электрического поля в зазоре до 7 B/mum.
- Robertson J. // Thin Solid Films. 1997. V. 296. P. 61
- Saito Y., Hamaguchi K., Nata K. et al. // Nature. 1997. V. 389. P. 555
- Былинкина Н.Н., Муштакова С.П., Олейник В.А. и др. // Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22. В. 6. С. 43--47
- Уббелоде А.Р., Льюис Ф.А. Графит и его кристаллические соединения. М.: Мир, 1965. С. 185
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук