Зависимость спектрального разрешения рентгеновского дифрактора от формы и кривизны отражающей поверхности
Латуш Е.М.1, Мазурицкий М.И.1
1Ростовский государственный университет, Ростов-на-Дону
Email: mazurmik@icomm.ru
Поступила в редакцию: 30 июля 2001 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2001 г.
В приближении точечного источника излучения проведено теоретическое исследование зависимости спектрального разрешения фокусирующего рентгеновского дифрактора от формы кристаллографических поверхностей. Представлена аналитическая зависимость разрешения от кривизны кристалла в плоскости круга фокусировки. Для несимметричного дифрактора получено значение радиуса кривизны, при котором достигается наилучшее спектральное разрешение.
- Freund A.K. X-ray Optics. Grenoble: ESRF, 1987. P. 54
- Bonnelle C., Mande C. Advances in x-ray spectroscopy. Oxford and New York: Pergamon Press, 1982. 423
- DuMond J.W.M., Kirpatrick A. // Rev. Sci. Instrum. 1930. V. 1. P. 88
- Johann H.H. // Z. Phys. 1931. V. 69. P. 185
- Мазурицкий М.И., Солдатов А.В., Латуш Е.М., Ляшенко В.Л., Марчелли А. // Письма в ЖТФ. 1999. Т. 25. В. 19. С. 11--16
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук