Нанометровая модификация материала методом электродинамической локализации оптического излучения
Козлов В.А.1,2, Оболенский С.В.1,2, Китаев М.А.1,2
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: obolensk@rf.unn.runnet.ru
Выставление онлайн: 19 сентября 2001 г.
Предложен метод электродинамической локализации оптического излучения с помощью заостренных металлических объектов, позволяющий модифицировать материалы на размерах, существенно меньших длины волны излучения.
- Оболенский С.В., Китаев М.А. // ПЖТФ. 2000. Т. 26. В. 10. С. 13--16
- Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука, 1982. 475 с
- Ваганов Р.Б., Каценеленбаум Б.Э. Основы теории дифракции. М.: Наука, 1982. 283 с
- Фелсен Л., Маркувиц Н. Излучение и рассеяние волн. М.: Мир, 1978. 428 с
- Мандельштам Л.И. Лекции по теории колебаний. М.: Наука, 1972. 384 с
- Гинзбург В.Л., Мотулевич Г.П. // УФН. 1955. Т. 55. N 3. С. 469--473
- Handbook of optical constants of solids / Ed. by E. Palik. Academic press, 1985. 687 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
