Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследования электронной структуры тонких пленок фуллерена, нанесенных различными методами
Шахмин А.Л.1,2, Ходорковский А.М.1,2, Мурашов С.В.1,2, Артамонова Т.О.1,2, Голод А.В.1,2
1РНЦ "Прикладная химия", С.-Петербург
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 14 сентября 2000 г.
Выставление онлайн: 20 января 2001 г.
Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС) исследуются спектры валентных зон и характеристических потерь энергии фотоэлектронов после 1s пика углерода в тонких пленках фуллерена, нанесенных различными методами. Наличие тонкой структуры в плотности состояний вблизи дна валентной зоны пленок фуллеренов, нанесенных с помощью импульсного сверхзвукового молекулярного пучка (СМП) гелия [1], может свидетельствовать о наличии в них дальнего порядка. Отмечается, что спектры pi-плазмонных потерь в пленках, полученных методами термического и СМП осаждения, существенно отличаются, что может быть связано с более плотной упаковкой молекул C60 в СМП пленке.
- Ходорковский М.А., Шахмин А.Л., Мурашов С.В. и др. // Письма в ЖТФ. 1998. Т. 24. В. 10. С. 20--23
- Jun Onoe, Aiko Nakao, Kazuo Takeuchi // Phys. Rev. B. 1997. V. 55. N 15. P. 10051--10056
- Немошкаленко В.В., Алешин В.Г. Электронная спектроскопия кристаллов. Киев: Наукова думка, 1976. 335 с
- Weaver J.H., Jose Luis Martins, Komeda T. et al. // Phys. Rev. Lett. 1991. V. 66. N 13. P. 1741--1744
- Силинь А.Р., Трухин А.Н. Точечные дефекты и элементарные возбуждения в кристаллическом и стеклообразном SiO2. Рига: Зинатне, 1985. 244 с
- McFeely F.R., Kowalczyk S.P., Ley L. et al. // Phys. Rev. B. 1974. V. 9. N 12. P. 5268--5278
- Martin P. Gelfand, Jian Ping Lu // Phys. Rev. Lett. 1992. V. 68. N 7. P. 1050--1053
- Ryuichi Kuzuo, Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka et al. // Jpn. J. of Appl. Phys. 1991. V. 30. N 10A. P. L1817--L1818
- Rao A.M., Ping Zhou, Kai-An Wang et al. // Science. 1993. V. 259. P. 955--957
- Khodorkovski M.A., Shakhmin A.L., Murashov et al. // 21st International symposium on Rarefied Gas Dynamics. Marseille (France), 26--31 July 1998. Book of Abstracts VIII. Special Session Molecular beams. MB P-57, 58
- Jun Onoe, Kazuo Takeuchi // Phys. Rev. Lett. 1997. V. 79. N 16. P. 2987--2989
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
