Вышедшие номера
Исследование процесса субнаносекундного обрыва тока в мощных полупроводниковых прерывателях
Рукин С.Н.1, Цыранов С.Н.1
1Институт электрофизики Уральского отделения РАН, Екатеринбург, Россия
Поступила в редакцию: 25 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2000 г.

На основе физико-математической модели исследован процесс обрыва тока высокой плотности в структуре SOS-диода. Установлено, что при глубине залегания p-n-перехода ~200 mum, времени прямой накачки менее 60 ns и времени обратной накачки ~10-15 ns реализуется субнаносекундный обрыв тока плотностью 103-104 A/cm2. Механизм обусловлен возникновением в p-области структуры двух пространственно разделенных областей сильного поля, расширяющихся на стадии обрыва тока со скоростью, близкой к насыщенной.