Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Электрофизические свойства тонких пленок BaxSr1-xTiO3 различного состава в СВЧ диапазоне
Разумов С.В.1, Тумаркин А.В.1
1Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия 
Поступила в редакцию: 12 апреля 2000 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2000 г.
Приведены результаты исследований электрофизических свойств пленок BaxSr1-xTiO3 различного состава, полученных методом ионно-плазменного распыления в зависимости от технологических параметров процесса синтеза.
- Ponds J.M., Kirchoefer S.W., Chang W., Horwitz J., Chrisey D.B. // Integr. Ferroelectr. 1998. V. 22. P. 317--323
- Miranda F., Van Keuls F.W., Romanofsky R.R., Subramanyam G. // Integr. Ferroelectr. 1998. V. 22. P. 269--277
- Jaemo Im, Auciello O., Baumann P.K., Streiffer S.K., Kaufman D.Y., Krauss A.R. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 76. P. 625--627
- Baniecki J.D., Laibowitz R.B., Shaw T.W., Duncombe P.R., Neumayer D.A., Kotecki D.E., Shen H., and Ma Q.Y. // Appl. Phys. Lett. 1998. V. 72. P. 498--506
- Kozyrev A.B., Ivanov A.V., Samoilova T.B., Soldatenkov O.I., Sengupta L.C., Rivkin T.V., Carlson C.M., Parilla P.A., Ginley D.S. // Integr. Ferroelectr. 1999. V. 24. P. 297--307
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
