"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Возможен ли рост концентрации отрицательных ионов в паузах тока импульсного разряда в кислороде?
Кудрявцев А.А.1,2, Цендин Л.Д.1,2
1С.-Петербургский государственный университет
2С.-Петербургский государственный технический университет
Email: akud@ak2138.spb.edu
Поступила в редакцию: 22 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2000 г.

Проведен критический анализ имеющихся данных о распаде кислородной плазмы низкого давления. Основное внимание уделено неоднократно наблюдаемым на начальных стадиях распада эффектам резкого роста потока отрицательных ионов на стенку и увеличения во времени изменения зондового тока при лазерном фотоотрыве. Эти явления в различных работах связываются с абсолютным ростом концентрации отрицательных ионов. Показано, что совокупность всех имеющихся экспериментальных данных невозможно объяснить только действием объемных плазмохимических реакций без учета специфики процессов переноса в электроотрицательных газах. Предложен альтернативный механизм, связанный с двухстадийным распадом плазмы электроотрицательных газов, сопровождаемый сменой режима диффузии.
  1. Hopkins M.B., Bakal M., Graham W.G. // J. Appl. Phys. 1991. V. 70. P. 2009--2015
  2. Samukawa S., Ohtake H. // J. Vac. Sci. Technol. 1996. V. A14(6). P. 3049--3058
  3. Lieberman M.A., Ashida S. // Plasma Sources Sci. Technol. 1996. V. 5. P. 145--158
  4. Ahn T.H., Nakamura K., Sugai H. // Plasma Sources Sci. Technol. 1996. V. 5. P. 139--144
  5. Hebner G.A. // J. Vac. Sci. Technol. 1996. V. A14(4). P. 2158--2162
  6. Overzet L.J., Smith B.A., Kleber J., Kanakasabapathy K. // Jpn. J. Appl. Phys. 1997. V. 36. P. 2443--2449
  7. Гуцев С.А., Кудрявцев А.А., Романенко В.А. // ЖТФ. 1995. Т. 65. С. 77--85
  8. Кудрявцев А.А. // Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22. Вып. 17. C. 11--14
  9. Цендин Л.Д. // ЖТФ. 1985. Т. 55. N 12. C. 2318--2322
  10. Рожанский А.В., Цендин Л.Д. Столкновительный перенос в частично-ионизованной плазме. М.: Энергоатомиздат, 1988. 248 с
  11. Mieno T., Kamo T., Hayashi D. et al. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 69(5). P. 617
  12. Hayashi D., Kadota K. // J. Appl. Phys. 1998. V. 83(2). P. 697
  13. Ishikawa T., Hayashi D., Sasaki K. et al. // Appl. Phys. Lett. 1998. V. 72. P. 2391
  14. Hayashi D., Kadota K. // Jpn. J. Appl. Phys. 1999. V. 37. N 1A. P. 225--230
  15. Gousset G., Ferreira C.M., Pinheiro M. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1991. V. 24. P. 290--300
  16. Feoktistov V.A., Mukhovatova A.V., Popov A.M., Rakhimova T.V. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1995. V. 28. P. 1346--1353
  17. Lee C., Graves D.B., Lieberman M.A., Hess D.W. // J. Electrochem. Soc. 1994. V. 141. N 6. P. 1546--1555
  18. Smith D., Dean A.G., Adams N.G. // J. Phys. D.: Appl. Phys. 1974. V. 7. P. 1944--1962
  19. Месси Г. Отрицательные ионы. М.: Мир, 1979. 754 с
  20. Arslanbekov R.R., Kudryavtsev A.A. // Phys. Rev. E. 1998. V. 58. N 6. P. 7785--7798
  21. Кучинский В.В., Мишаков В.Г., Тибилов А.С., Шухтин А.М. // Оптика и спектроскопия. 1975. Т. 34. N 6. C. 1043--1048
  22. Baca M., Hamilton G.W. // Phys. Rev. Lett. 1979. V. 42. P. 1538--1541

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.