Об одной возможности точного измерения показателя преломления прозрачной жидкости
Неркарарян Х.В.1, Маркарян Н.Л.1, Оганнисян Е.Дж.1
1Ереванский государственный университет
Поступила в редакцию: 15 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1997 г.
В работе рассматриваются особенности распространения световой волны через структуру полупроводник-зазор-полупроводник. Здесь толщина зазора между параллельно расположенными плоскостями кристаллов - величина порядка микрометра. Показано, что сочетание процессов многократного отражения и интерференции приводит к экспоненциальной форме зависимости интенсивности проходящего излучения от показателя преломления, заполняющего зазор материала. Это обстоятельство позволяет предложить простой метод точного определения показателя преломления прозрачной жидкости.
- Шишловский А.А. Прикладная физическая оптика. М., 1961. 822 с
- Иоффе Б.В. Рефрактометрические методы химии. Л., 1983. 351 с
- Ding T., Garmire E. // Appl. Opt. 1983. V. 22. N 20. P. 3177--3181
- Kersten R.Th. // Optics Communications. 1977. V. 13. N 3. P. 327--329
- Арутюнян Вл.М., Неркарарян Х.В. // Письма в ЖТФ. 1993. Т. 19. В. 21. С. 44--48
- Арутюнян Вл.М., Неркарарян Х.В. // ФТТ. 1994. Т. 36. В. 5. С. 1513--1516
- Aroutionian V.M., Nerkararian Kh.V. // Sensors and Actuators. 1995. V. 24--25. P. 353--356
- Арутюнян Вл.М., Неркарарян Х.В. // Письма в ЖТФ. 1995. Т. 21. В. 16. С. 52--56
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук