"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Особенности процесса перемагничивания обменно-связанной ферро-ферромагнитной пленочной структуры NiFe/CoP
Фролов Г.И.1,2,3, Кипарисов С.Я.1,2,3, Середкин В.А.1,2,3, Полякова К.П.1,2,3, Патрин Г.С.1,2,3, Жигалов В.С.1,2,3, Балаев А.Д.1,2,3
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
3Сибирский государственный аэрокосмический университет им. академика М.Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
Email: pkp@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 25 октября 2013 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2014 г.

Исследовано влияние толщины слоев на магнитные свойства и механизм перемагничивания обменно-связанной пленочной структуры NiFe/CoP. Процесс перемагничивания образцов изучался через анализ индукционных и магнитооптических петель гистерезиса. Установлено, что при увеличении толщины слоев наблюдается переход от однородного перемагничивания пленочной структуры к процессу формирования спиновой пружины в магнитомягком слое.
  1. Fullerton E.E., Jiang J.S., Grimsditch M. et al. // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. P. 12193
  2. Xi H., White R.M. // Phys. Rev. B. 2000. V. 61. P. 80
  3. Кабанов Ю.П., Горнаков В.С. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. С. 8
  4. Фролов Г.И., Середкин В.А., Яковчук В.Ю. // Письма в ЖТФ. 2010. Т. 36. С. 17
  5. Leineweber T., Kronmiller H. // J. Magn. Magn. Mater. 1997. V. 176. P. 145
  6. Yan S., Barnard J.A., Xu F. et al. // Phys. Rev. B. 2001. V. 64. P. 184 403
  7. Goto E., Hayashi N., Miyashita T., Nakagawa K. // J. Appl. Phys. 1965. V. 36. P. 2951
  8. Вершинин В.В., Кипарисов С.Я., Патрин Г.С. и др. // ФММ. 2007. Т. 103. С. 493
  9. Mauri D., Siegman H.C., Bagues P.S., Kay E. // J. Appl. Phys. 1987. V. 62. P. 3047

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.