Исследование прохождения пучков 1.7 MeV He+ через мембраны пористого оксида алюминия
Шемухин А.А.1, Муратова Е.Н.1
1Научно-исследовательский институт им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Москва Санкт-Петербургский электротехнический университет им. В.И. Ульянова (Ленина) "ЛЭТИ" (СПбГЭТУ)
Email: Sokolovaeknik@yandex.ru
Поступила в редакцию: 7 ноября 2013 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2014 г.
Исследован процесс прохождения заряженных частиц через нанопористые мембраны оксида алюминия с диаметром пор около 20 nm. Показано, что при прохождении через диэлектрические нанокапилляры наблюдается guiding-эффект, характерный для стеклянных микрокапилляров. Максимальный измеренный коэффициент пропускания соответствует 0.625. Экспериментально показано, что с помощью методики резерфордовского обратного рассеяния можно анализировать качество структуры нанопористых мембран.
- Vokhmyanina K.A., Zhilyakov L.A., Konstanovsky A.V. et al. // Phys. A: Math. Gen. 2006. V. 39. P. 4775--4779
- Похил Г.П., Вохмянина К.А. // Поверхность. 2008. N 3. С. 71--73
- Stolterfoht N., Hellhammer R., Sobocinski P. et al. // Nuclear Instruments and Methods in Physics. Research. B. 2005. V. 235. P. 460--467
- Комаров Ф.Ф., Камышин А.С., Гришин П.А. // Журнал нано- и электронной физики. 2013. Т. 5. N 1. C. 01015 (5 c)
- Вохмянина К.А., Жукова П.Н., Иррибарра Э.Ф. и др. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2013. N 3. С. 83--87
- Masuda H., Abe A., Nakao M. et al. // J. Adv. Mater. 2003. V. 15(2). P. 161--164
- Nanostructured Materials in Electrochemistry / Ed. by Ali Eftekhari. Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbN \& Co. KGaA. 2008. 463 p
- Зимина Т.М., Муратова Е.Н., Спивак Ю.М. и др. // Нано- и микросистемная техника. 2012. N 12. С. 15--24
- Муратова Е.Н., Спивак Ю.М., Мошников В.А. и др. // Физика и химия стекла. 2013. Т. 39. N 3. С. 473--480
- Шемухин А.А., Балакшин Ю.В., Черных П.Н., Черныш В.С. // Поверхность. 2013. N 4. С. 25--28
- Шемухин А.А., Балакшин Ю.В., Чершыш В.С. и др. // Письма в ЖТФ. 2012. Т. 38. В. 19. С. 83--89
- Ziegler J.F., Biersack J.P., Ziegler M.D. SRIM --- The Stopping and Range of Ions in Matter. Ion Implantation Press, 2008
- Пат. РФ N 122385 U1 / П.Г. Травкин, К.Н. Соколова, Ю.М. Спивак, В.А. Мошников. Электрохимическая ячейка для получения пористых анодных оксидов металлов и полупроводников. Опубл. 27.11.2012. Бюл. N 33. МПК С25D11/00 (2006.01),C25D19/00 (2006.01). Решение о выдаче патента от 01.08.12 по заявке на полезную модель N 2012122692. Роспатент
- Черных П.Н., Чеченин Н.Г. Методика ионно-пучкового анализа на ускорителе HVEE AN-2500: Уч. пособие. М.: Изд-во уч.-науч. центра МГУ, 2011. 41 с
- Zhu Z., Zhu D., Lu R. et al. // Proc. Int. Conf. on Charged and Neutral Particles Channeling Phenomena (Frascati, Italy). V. 5974 (Bellingham, WA: SPIE). P. 13
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук