"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Особенности фотоакустического преобразования в микропористом нанокристаллическом кремнии
Титаренко А.И.1, Андрусенко Д.А.1, Кузьмич А.Г.1, Гаврильченко И.В.1, Скрышевский В.А.1, Исаев Н.В.1, Бурбело Р.М.1
1Киевский национальный университет им. Тараса Шевченко, Киев, Украина
Email: tytarenkof@gmail.com
Поступила в редакцию: 27 сентября 2013 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2014 г.

Представлены результаты исследования фотоакустического преобразования в микропористом нанокристаллическом кремнии. Экспериментально получены амплитудно-частотные и фазово-частотные характеристики фотоакустического сигнала от образцов микропористого кремния на монокристаллической подложке при их облучении светом с различной длиной волны. Измерения информативного отклика проводились газомикрофонным и пьезоэлектрическим методами регистрации. На основании предложенной математической модели показано, что различие параметров фотоакустического сигнала для разных длин волн возбуждающего излучения связано со сдвигом края фундаментального поглощения в нанокристаллическом кремнии. Отмечено, что метод пьезорегистрации более чувствителен к изменению теплофизических и оптических параметров пористого слоя.
  1. Korotcenkov G., Cho B.K. // Crit. Rev. Solid State and Mater. Sci. 2010. V. 35. P. 153
  2. Newby P.J., Canut B. et al. // J. Appl. Phys. 2013. V. 114. P. 014 903 (9)
  3. Lehmann V. Electrochemistry of Silicon: Instrumentation, Science, Materials and Applications. Wiley-VCH Verlag GmbH, 2002. 208 p
  4. Образцов А.Н., Тимошенко В.Ю., Окуши Х. et al. // ФТП. 1999. Т. 33. В. 3. С. 322--326
  5. Behzad K., Mahmood W., Yunus M. et al. // Int. J. Electrochem. Sci. 2012. V. 7. P. 8266--8275
  6. Rosencwaig A. Photoacousties and Photoacoustic Spectroscopy. New York ect.: John Wiley and Sons, 1980. V. 57. 310 p
  7. Jackson W., Amer N.M. // J. Appl. Phys. 1980. V. 51. N 6. P. 3343--3353
  8. Monchain J.P., Bertrand L., Rousset G. // J. Appl. Phys. 1984. V. 56 (1). P. 190--210
  9. Ostrovskii I., Korotchenkov O., Burbelo R. et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2011. V. 278. P. 012 003
  10. Gavrilchenko I.V., Benilov A.I., Shulimov Y.G. et al. // Materials science and engineering. B. 2000. V. 76. P. 139--144
  11. Андрусенко Д.А., Кучеров И.Я. // ЖТФ. 1999. Т. 68. В. 1. С. 75--79
  12. Алексеев S., Andrusenko D., Burbelo R. et al. // J. Phys.: Conf. Ser. 2011. V. 278. P. 012 003
  13. Образцов А.Н., Окуши Х., Ватанабе Х. и др. // ФТП. 1997. Т. 31. В. 5. С. 629--631
  14. Andrusenko D., Isaev M., Kuzmich A. et al. // Nanoscale Research Letters. 2012. V. 7. P. 411
  15. Marvin J. Weber Handbook of Optical Materials. Boca Raton--London--New York--Washington, D.C. CRC PRESS LLC, 2003. 536 p
  16. Doghmane A., Hadjoub Z., Doghmane M. et al. // Semiconductor Physics, Quantum Electonics \& Optoelectronics,. 2006. V. 9. N 3. P. 4--11
  17. Lysenko V., Roussel P.H., Remaki B. et al. // J. Porous Materials. 2000. V. 7. P. 177--182
  18. Bisia O., Ossicinib S., Pavesi L. // Surface Science Reports. 2000. V. 38. Is. 1--3. P. 1--126.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.