"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Влияние формы и упругих полей деформаций квантовых точек на диффузное рассеяние рентгеновских лучей
Пунегов В.И.1, Сивков Д.В.1
1Коми научный центр УpО РАН, Сыктывкар, Россия
Email: vpunegov@dm.komisc.ru
Поступила в редакцию: 29 мая 2013 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2013 г.

Исследовано влияние формы и упругих полей деформаций скрытых квантовых точек (КТ) на угловое распределение диффузного рассеяния рентгеновских лучей. Расчеты упругих атомных смещений выполнены с использованием метода функции Грина. Проведено численное моделирование диффузного рассеяния от полупроводниковой матрицы с КТ в форме цилиндра, усеченного конуса и сфероида. Показано, что при малой объемной плотности наноструктур в кристалле угловые распределения диффузного рассеяния для КТ разной формы имеет существенные отличия. При большой плотности КТ, что характерно для сверхрешеток, эти отличия становятся слабыми.
  1. Pietsch U., Holy V., Baumbach T. High Resolution X-ray Scattering --- from Thin Films to Lateral Nanostructures. New York: Springer-Verlag, 2004. 408 p
  2. Wang Z.M. (ed.). Self-Assembled Quantum Dots. Berlin: Springer, 2008. 463 p
  3. Maranganti R., Sharma P. // Handbook of Theoretical and Computational Nanotechnology. N. Y.: Amer. Sci. Publishers, 2005. V. 1. P. 1-44
  4. Benabbas T., Androussi Y., Lefebvre A. // J. Appl. Phys. 1999. V. 86. N 4. P. 1945-1950
  5. Daruka I., Barabasi A.-L., Zhou S.J., Germann T.C., Lomdahl P.S., Bishop A.R. // Phys. Rev. B. 1999. V. 60. P. R2150-R2153
  6. Yang M., S. Xu J., Wang J. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 92. P. 083 112 (1-3)
  7. Andreev A.D., Downes J.R., Faux D.A., O'Reilly E.P. // J. Appl. Phys. 1999. V. 86. N 1. P. 297-305
  8. Nenashev A.V., Dvurechenskii A.V. // J. Appl. Phys. 2010. V. 107. P. 064 322 (1-8)
  9. Пунегов В.И., Фалеев Н.Н. // Письма в ЖЭТФ. 2010. Т. 92. C. 483-489; Punegov V.I., Faleev N.N. // JETP Letters. 2010. V. 92. P. 437-443
  10. Faleev N.N., Honsberg C., Punegov V.I. // J. Appl. Phys. 2013. V. 113. P. 163 506 (1-9)
  11. Hrauda N., Zhang J.J., Stoffel M., Stangl J., Bauer G., Rehman-Khan A., Holy V., Schmidt O.G., Jovanovic V., Nanver L.K. // Eur. Phys. J. 2009. V. 167. P. 41-46
  12. Schroth P., Slobodskyy T., Grigoriev D., Minkevich A., Riotte M., Lazarev S., Fohtung E., Hu D.Z., Schaadt D.M., Baumbach T. // Materials Science and Engineering B. 2012. V. 177. P. 721-724
  13. Krivoglaz M.A. X-Ray and Neutron Diffraction in Nonideal Crystals. Berlin: Springer, 1996. 467 p
  14. Blokland J.H., Bozkurt M., Ulloa J.M., Reuter D., Wieck A.D., Koenraad P.M., Christianen P.C.M., Maan J.C. // Appl. Phys. Lett. 2009. V. 94. P. 093 107 (1-3)
  15. Пунегов В.И., Сивков Д.В., Кладько В.П. // Письма в ЖТФ. 2011. Т. 37. В. 8. С. 41-47; Punegov V.I., Sivkov D.V., Kladko V.P. // Tech. Phys. Lett. 2011. V. 37. P. 41-47
  16. Пунегов В.И. // Кристаллография. 2009. Т. 54. N 3. С. 423-431; Punegov V.I. // Crystallography Reports. 2009. V. 54. N 3. P. 423-431
  17. Nesterets Ya.I., Punegov V.I. // Acta Cryst. A. 2000. V. 56. P. 540-548
  18. Бушуев В.А. Угловое распределение интенсивностей динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с микродефектами в геометриях Лауэ и Брэгга. М.: ВИНИТИ, 1988. N 486-В88. 51 с
  19. Darhuber A.A., Schittenhelm P., Holy V., Stangl J., Bauer G., Abstreiter G. // Phys. Rev. B. 1997. V. 55. P. 15 652-15 663
  20. Maia A.D.B., da Silva E.C.F., Quivy A.A., Bindilatti V., de Aquino V. M., Dias I.F.L. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2012. V. 45 . P. 225 104 (1-5)
  21. Пунегов В.И., Колосов С.И, Павлов К.М. // Письма в ЖТФ. 2006. Т. 32. В. 18. C. 65-72; Punegov V.I., Kolosov S.I., Pavlov K.M. // Tech. Phys. Lett. 2006. V. 32. P. 809-812
  22. Hesse A., Stangl J., Holy V., Roch T., Bauer G., Schmidt O.G., Denker U., Struth B. // Phys. Rev. B. 2002. V. 66. P. 085 321 (1-8)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.