"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Исследование субмикронных полостей в углеситалле методом фокусированного ионного пучка
Волков Р.Л.1,2, Боргардт Н.И.1,2, Кукин В.Н.1,2, Агафонов А.В.1,2, Кузне цов В.О.1,2
1Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Зеленоград, Москва, Россия
2ЗАО "ТРИ Карбон", Москва, Зеленоград
Email: lemi@miee.ru
Поступила в редакцию: 1 марта 2013 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2013 г.

Метод фокусированного ионного пучка применен для формирования серии параллельных сечений и последующей трехмерной визуализации полостей в углеситалле, измерениях их объемов и определения локальной пористости материала. На основе полученных данных оценена погрешность определения локальной пористости углеситалла по одному сечению. С использованием этих сечений установлено, что пористость в технологических заготовках углеситалла уменьшается по мере его роста в вертикальных коаксиальных реакторах.
  1. Burchell T.D. Carbon Materials for Advanced Technologies. Kidlington: Elsevier science, 1999. 540 p
  2. Кукин В.Н., Боргардт Н.И., Агафонов А.В. и др. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2005. N 11. Т. 71. С. 24--30
  3. Кукин В.Н., Боргардт Н.И., Агафонов А.В. и др. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. В. 17. С. 76--82
  4. Волков Р.Л., Боргардт Н.И., Кукин В.Н. // Изв. РАН. Сер. физ. 2011. Т. 75. N 9. С. 1297
  5. Татаринов В.Ф., Виргилев Ю.С., Евдокимов С.В. // Перспективные материалы. 1999. N 4. С. 41--45
  6. Татаринов В.Ф., Золкин П.И. // Огнеупоры и техническая керамика. 1999. N 3. С. 37--38
  7. Вергильев Ю.С., Татаринов В.Ф. // Химия твердого топлива. 2000. N 3. С. 57--63
  8. Inagaki M. // New carbon materials. 2009. V. 24. N 3. P. 193--222
  9. Yao N. Focused Ion Beam Systems: Basicand Applications. N.Y.: Cambridge University Press, 2007. 395 pp
  10. Holzer L., Indutnyi F., Gasser Ph. et al. // J. Microscopy. 2004. V. 216. P. 84--95
  11. Balach J., Miguel F., Soldera F. et al. // J. Microscopy. 2012. V. 246. P. 274--278
  12. Roussel L.Y., Stokes D.J., Gestmann I. et al. // Scanning Microscopy. 2009. Proceedings of the SPIE. 2009. V. 7378. P. 73780W--73780W-9
  13. Inkson B.J., Mulvihill M., Mobus G. // Scripta Materialia. 2001. V. 45. P. 753--758
  14. ITEM: The TEM imaging platform. Manual. Munster: Olympus Soft Imaging Solutions GmbH, 2007. 231 p

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.