Методами численного моделирования и экспериментальной секционной рентгеновской топографии изучены закономерности образования дифракционного изображения дислокаций. Изучение рассеяния рентгеновских лучей на неоднородностях кристаллической решетки представляет интерес по нескольким причинам. Во-первых, контраст дефектов связан с фундаментальной проблемой - развитием динамической теории рассеяния рентгеновского излучения в реальных кристаллах. Во-вторых, знание особенностей дифракции позволяет качественно, а в ряде случаев и количественно, анализировать рентгеновский дифракционный контраст дефектов кристаллической решетки [1-4] (измерять величины деформаций, определять знак и параметры вектора Бюргерса и пр.).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.