Вышедшие номера
Экспериментальное исследование воздействия протонов на приборы с зарядовой связью
Ермаков К.Н.1,2, Иванов Н.А.1,2, Лобанов О.В.1,2, Пашук В.В.1,2, Тверской М.Г.1,2, Любинский С.М.1,2
1Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Гатчина, Ленинградская область, Россия
2Научно-исследовательский институт телевидения, Санкт-Петербург
Email: ivanovna@pnpi.spb.ru
Поступила в редакцию: 17 февраля 2010 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2010 г.

Исследовано воздействие протонов с энергией 1000 MeV на датчики изображения на основе приборов с зарядовой связью (CCD-матриц), которые в составе различной аппаратуры широко используются на космических летательных аппаратах. Цель - изучить влияние на параметры CCD-матриц локальных структурных повреждений кристаллической решетки отдельными ядерными частицами. Представлены зависимости темнового тока CCD-матриц от флюенса протонов в диапазоне до 2· 1011 cm-2.