Спектроскопия упругого отражения электронов для количественного элементного анализа поверхности твердого тела
Пронин В.П.1, Хинич И.И.1, Чистотин И.А.1
1Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 7 февраля 2008 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2008 г.
Предложен в апробирован метод неразрушающего анализа элементного состава неупорядоченной поверхности твердого тела с разрешением по глубине в наноразмерном диапазоне на основе изучения пространственных распределений упруго отраженных электронов. PACS: 79.20.Hx
- Бронштейн И.М., Пронин В.П., Хинич В.П., Чистотин И.А. // Изв. РГПУ им. А.И. Герцена, сер. физическая. 2006. N 6 (15). С. 151--165
- Jablonski A. // Progress in Surface Science. 2003. V. 74. P. 357--374
- Макаров В.В., Игонин С.И. // Письма в ЖТФ. 1987. Т. 13. С. 1043
- Orosz G.T., Gergely G., Menyhard M., Toth J., Varga D., Lesiak B., Jablonski A. // Surface Science. 2004. V. 566--568. P. 544--548
- Powell C.J., Jablonski A. Standard Reference Data Program Database 64. / National Institute of Standards and Technology. Gaithersburg. MD. 2003
- Гурвич А.М. Введение в физическую химию кристаллофосфоров. М.: Высшая школа. 1982. 367 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.