Вышедшие номера
Зависимости концентрации дивакансий при облучении электронами от содержания Ge в сплаве p-Si1-xGex (0<x<0.1)
Матчанов Н.А.1
1Физико-технический институт НПО ”Физика−Солнце“ Академии наук Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
Email: sirnornur@uzsci.net
Поступила в редакцию: 4 апреля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2007 г.

Исследованы зависимости концентрации дивакансий от содержания Ge при облучении электронами 5 MeV в сплаве Si1-xGex в интервале составов 0<x<0.10. Показано, что в исследованном интервале составов вероятности образования первичных радиационных дефектов при облучении электронами слабо зависят от содержания германия. PACS: 61.82.Fk, 61.80.Fe, 61.82.Bg