"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Полевая ионная микроскопия объектов микрометрового масштаба
Ксенофонтов В.А.1, Саданов Е.В.1, Михайловский И.М.1, Великодная О.А.1
1Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", Харьков, Украина
Email: mikhailovskij@kipt.kharkov.ua
Поступила в редакцию: 6 июня 2005 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 2005 г.

На металлах и сплавах обнаружен аномально низкий уровень напряженности полей испарения и полевой ионизации при повышенных парциальных давлениях паров воды. Показано, что этот эффект может быть использован при ионно-микроскопических исследованиях для формирования и полировки поверхности острийных образцов в микрометровом диапазоне размеров, что позволяет увеличить на 3-4 порядка исследуемый объем образцов.
  • Мюллер Э., Цонь Т. Автоионная микроскопия. М.: Металлургия, 1972. 360 с
  • Miller M.K., Cerezo A., Hetherington M.G., Smith G.D.W. Atom-Probe Field Ion Microscopy. Oxford: Oxford University Press, 1996. 509 p
  • Михайловский И.М., Полтинин П.Я., Федорова Л.И. // ФММ. 1983. Т. 56. В. 1. С. 186--191
  • Блашенков Н.М., Лаврентьев Г.Я., Шредник В.Н. // Письма в ЖТФ. 2004. Т. 30. В. 12. С. 50--55
  • Randle V. // Acta Metal. Mater. 1994. V. 43. N 5. P. 1741--1749
  • Михайловский И.М., Саданов Е.В. // Поверхность. Физика, химия, механика. 1990. В. 5. С. 119--123
  • Lazarenko A.S., Mikhailovskij I.M., Rabukhin V.B., Velikodnaja O.A. // Acta Metal. Mater. 1994. V. 43. N 2. P. 639--643
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.