Вышедшие номера
ФМP-исследование магнитной анизотропии эпитаксиальных тонких пленок CrO2
Рамеев Б.З.1,2, Гупта А.1,2, Мяо Г.1,2, Ксяо Г.1,2, Йылдыз Ф.1,2, Тагиров Л.Р.1,2, Акташ Б.1,2
1Казанский физико-технический институт, Казань, Россия Институт технологии Гебзе, Гебзе-Коджаели, Турция
2Университет Алабамы, Тускалуса, Алабама, США Университет Брауна, Провиденс, Род Айленд, США Казанский государственный университет, Казань, Россия
Email: rameev@gyte.edu.tr
Поступила в редакцию: 5 апреля 2005 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2005 г.

Магнитная анизотропия эпитаксиальных тонких пленок диоксида хрома (CrO2) исследована в зависимости от их толщины метoдом ферромагнитного резонанса (ФМР). Тонкие (27-535 nm) пленки CrO2 были приготовлены методом химического осаждения из газовой фазы исходного реагента CrO3 на монокристаллические подложки диоксида титана (TiO2) с ориентацией (100). Была обнаружена сильная зависимость сигнала ФМР от толщины пленок для серии образцов, осажденных на подложки, поверхность которых была предварительно очищена травлением в растворе плавиковой кислоты (HF). Установлено, что магнитное поведение пленок CrO2 определяется конкуренцией между энергиями магнитокристаллической и магнитоупругой анизотропии. Последняя связана с упругими растягивающими напряжениями, возникающими из-за несовпадения кристаллических решеток пленки и подложки. В самой тонкой (27 nm) из пленок вклад магнитоупругой анизотропии доминирует, и направление оси легкого намагничивания "переключается" от оси [001], характерной для объемного магнетика, к оси [010].