Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Особенности электронной дифракции наноструктурированных объектов для высокосимметричных проекций
Максимов С.К.1,2,3, Эрреро Р.1,2,3, Соболев Б.П.1,2,3
1Московский институт электронной техники (Технический университет)
2Institute of Material Science, Madrid, Spain
3Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
2Institute of Material Science, Madrid, Spain
3Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Email: lemi@lemi.miee.ru
Поступила в редакцию: 24 июня 2004 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2004 г.
Кристаллы M1-xRxF2+x (M - Ca, Ba, Cd, a R - редкоземельные элементы, Ga, In) склонны к расслоению c нанометровым масштабом (наноструктурированности), что во многом определяет их свойства. На электронограммах наноструктурированных кристаллов наблюдаются рефлексы, отвечающие неизвестным по структуре объектам, но эти рефлексы могут полностью исчезать, при вариациях наклона образца <1o. Показано, что подавление нематричных рефлексов не связано со структурой, а обусловлено особенностями дифракции.
- Sobolev B.P. The Rare Earth Trifluorides. Part 1. 2000. Part 2. 2001. Barselona, Institut d'Estudis Catalans
- Gleiter H. // Acta Materialia. 2000. V. 48. N 1. P. 1--29
- Соболев Б.П., Голубев А.Н., Кривандина Е.А. и др. // Кристаллография. 2002. Т. 47. N 2. C. 2237--2248
- Maksimov S.K., Avilov A.S., Sobolev B.P., Herrero P. // Proc. of Fifth International Conference "Single crystal growth and heat \& mass transfer". Obninsk, Russia, 2003. V. 2. P. 379--388
- Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М. Электронная микроскопия тонких кристаллов. М.: Наука, 1968. 574 с. (Hirsch P.B., Howie A., Nicholson R.B., Pashley D.W., Whelan M.J. Electron Microscopy of Thin Crystals. London: Butterworths, 1965)
- Kenji Tsuda. Quantitative electron diffraction by CBED. In the book "Moscow Euro-Summer School on Electron Crystallography". М.: ИК РАН, 2003. Р. 70--80
- Максимов С.К., Авилов А.С., Соболев Б.П., Эрреро П. // Заводская лаборатория. 2003. Т. 69. N 10. C. 24--28
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
