Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Особенности электронной дифракции наноструктурированных объектов для высокосимметричных проекций
1Московский институт электронной техники (Технический университет)
2Institute of Material Science, Madrid, Spain
3Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
2Institute of Material Science, Madrid, Spain
3Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
Email: lemi@lemi.miee.ru
Поступила в редакцию: 24 июня 2004 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2004 г.
Кристаллы M1-xRxF2+x (M - Ca, Ba, Cd, a R - редкоземельные элементы, Ga, In) склонны к расслоению c нанометровым масштабом (наноструктурированности), что во многом определяет их свойства. На электронограммах наноструктурированных кристаллов наблюдаются рефлексы, отвечающие неизвестным по структуре объектам, но эти рефлексы могут полностью исчезать, при вариациях наклона образца <1o. Показано, что подавление нематричных рефлексов не связано со структурой, а обусловлено особенностями дифракции.
- Sobolev B.P. The Rare Earth Trifluorides. Part 1. 2000. Part 2. 2001. Barselona, Institut d'Estudis Catalans
- Gleiter H. // Acta Materialia. 2000. V. 48. N 1. P. 1--29
- Соболев Б.П., Голубев А.Н., Кривандина Е.А. и др. // Кристаллография. 2002. Т. 47. N 2. C. 2237--2248
- Maksimov S.K., Avilov A.S., Sobolev B.P., Herrero P. // Proc. of Fifth International Conference "Single crystal growth and heat \& mass transfer". Obninsk, Russia, 2003. V. 2. P. 379--388
- Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М. Электронная микроскопия тонких кристаллов. М.: Наука, 1968. 574 с. (Hirsch P.B., Howie A., Nicholson R.B., Pashley D.W., Whelan M.J. Electron Microscopy of Thin Crystals. London: Butterworths, 1965)
- Kenji Tsuda. Quantitative electron diffraction by CBED. In the book "Moscow Euro-Summer School on Electron Crystallography". М.: ИК РАН, 2003. Р. 70--80
- Максимов С.К., Авилов А.С., Соболев Б.П., Эрреро П. // Заводская лаборатория. 2003. Т. 69. N 10. C. 24--28
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
