Фотоэлектронная спектроскопия тонкопленочных структур Yb-Si(100), формируемых методом твердофазной эпитаксии при 800 K
Вялых Д.В.1, Кузьмин М.В.1, Митцев М.А.1, Молодцов С.Л.1
1Institut fur Festkoerperphysik Fachrichtung Physik Technische Universitaet Dresden Dresden Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург
Email: m.mittsev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 15 марта 2004 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2004 г.
С помощью синхротронного излучения получены фотоэлектронные спектры тонкопленочных структур Yb-Si(100), формируемых методом твердофазной эпитаксии при 800 K. Их анализ показал, что в субмонослойной области покрытий поверхности кремния атомами Yb формирование двумерных упорядоченных структур сопровождается разрушением димеров, существующих на чистой реконструированной поверхности Si(100)2x1. В этой же области покрытий, начиная с самых малых их значений (theta=0.15), происходит зарождение силицидов. Установлено, что в слоистой структуре силицидов происходит перенос заряда из слоев иттербия в слои, образованные атомами Si. Сделан вывод, что в конечном счете этим переносом обусловлен характерный вид спектра остовногоSi 2p-уровня силицида, имеющий форму трезубца.
- Wigren C., Andersen J.N., Nyholm R. et al. // Phys. Rev. B. 1993. V. 48. N 15. P. 11 014--11 019
- Kuzmin M., Perala R.E., Laukkanen P. et al. // Appl. Surf. Sci. 2003. V. 214. P. 196--207
- Wigren C., Andersen J.N., Nyholm R. et al. // J. Vac. Sci. Technol. A. 1991. V. 9. N 3. P. 1942--1945
- Hofmann R., Henle W.A., Netzer F.P. et al. // Phys. Rev. B. 1992. V. 46. N 7. P. 3857--3863
- Кузьмин М.В., Логинов М.В., Митцев М.А. // Письма в ЖТФ. 1995. Т. 21. В. 19. С. 73--76
- Крачино Т.В., Кузьмин М.В., Логинов М.В. и др. // ФТТ. 1997. Т. 39. В. 2. С. 256--263
- Rossi G. // Surf. Sci. Rep. 1987. V. 7. N 1/2. P. 1--101
- Бехштедт A., Эндерлайн P. Поверхности и границы раздела полупроводников. М.: Мир, 1990. 484 с
- Braicovich L., Abbati I., Carbone С. et al. // Surf. Sci. 1986. V. 168. N 1--3. P. 193--203
- Wigren C., Andersen J.N., Nyholm R. et al. // Surf. Sci. 1993. V. 293. N 1. P. 254--259
- Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Галль Н.Р. и др. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. В. 12. С. 25--32
- Гомоюнова М.В., Пронин И.И., Галль Н.Р. и др. // ФТТ. 2003. Т. 45. В. 8. С. 1519--1522
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук