Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2013, выпуск 8 » Статья стр. 86
<<<
Влияние оксида свинца на диэлектрические характеристики гетерогенных пленок Pb(Zr,Ti)O3+PbO, полученных двухстадийным способом
Сенкевич С.В.1,2,3,4, Пронин И.П.1,2,3,4, Каптелов Е.Ю.1,2,3,4, Сергеева О.Н.1,2,3,4, Ильин Н.А.1,2,3,4, Пронин В.П.1,2,3,4
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Тверской государственный университет
3Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики
4Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
Email: Petrovich@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 29 ноября 2012 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2013 г.
PDF версия
Исследованы изменения диэлектрических свойств ex situ выращенных тонких пленок PZT в зависимости от микроструктуры перовскитовой фазы пленок и содержания в них микровключений избыточного оксида свинца, приводящих к аномально низким и аномально высоким значениям диэлектрической проницаемости, а также аномальному пироотклику.
  1. Krupanidhi S.B., Roy D., Maffei N., Peng C.J. // Integrated Ferroelectrics. 1992. V. 1. P. 253--268
  2. Suu K., Masuda T., Nishioka Y., Tani N. // Proc. of the Eleventh IEEE Intern. Symp. on Applications of Ferroelectrics (ISAF XI'98). Montreux, Switzerland, August 24--27, 1998. P. 19--22
  3. Пронин В.П., Сенкевич С.В., Каптелов Е.Ю., Пронин И.П. // ФТТ. 2013. Т. 55. В. 1. С. 92--94
  4. Пронин В.П., Сенкевич С.В., Каптелов Е.Ю., Пронин И.П. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные иследования. 2010. В. 9. С. 1--6
  5. Song Z.-T., Ren W., Wang S.-X., Wang L.-M. et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2000. V. 33. P. 764--772
  6. Park C.-S., Lee J.-W., Lee S.-M., Jun S.-H. et al. // J. Electroceram. 2010. V. 25. P. 20--25
  7. Афанасьев В.П., Мосина Г.Н., Петров А.А., Пронин И.П. и др. // Письма в ЖТФ. 2001. Т. 27. В. 11. С. 56--63
  8. Богомолов А.А., Сергеева О.Н., Киселев Д.А., Пронин И.П. и др. // ФТТ. 2006. Т. 48. В. 6. С. 1123--1126
  9. Пронин И.П., Каптелов Е.Ю., Сенкевич С.В., Климов В.А. и др. // ФТТ. 2010. Т. 52. В. 1. С. 124--128
  10. Pronin I.P., Kaptelov E.Yu., Senkevich S.V., Sergeeva O.N. et al. // Integr. Ferroelectrics. 2009. V. 106. P. 81--93
  11. Shannigrahi S., Yao K. // J. Appl. Phys. 2005. V. 98. 034 104
  12. Dudde R., Kaden D., Quenzer H.-J., Warner B. // NSTI-Nanotech. 2010. V. 2. P. 348--351
  13. Gerber P., Bottger U., Waser R. // J. Appl. Phys. 2006. V. 100. 124 105
  14. Es-Souni M., Piorra A. // Mater. Res. Bull. 2001. V. 36. P. 2563--2575
  15. Wada S., Muraishi T., Yokoh K., Yako K. et al. // Ferroelectrics. 2007. V. 355. P. 37--49
  16. Noheda B., Cox D.E., Shirane G., Gonzalo J.A. et al. // Appl. Phys. Lett. 1999. V. 74. P. 2059--2061
  17. Yan L., Li J.-F., Cao H., Viehland D. // Appl. Phys. Lett. 2006. V. 89. 262 905

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme