Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2009, выпуск 12 » Статья стр. 74
<<<>>>
Прямое наблюдение утечек неосновных носителей заряда в действующем лазерном диоде методом сканирующей Кельвин-зонд-микроскопии
Ладутенко К.С.1, Анкудинов А.В.1, Евтихиев В.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: fisik2000@mail.ru
Поступила в редакцию: 3 февраля 2009 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2009 г.
PDF версия
Предлагается подход к изучению процессов утечки дырок и электронов из активной области полупроводниковых лазерных диодов, заключающийся в измерениях с помощью сканирующей Кельвин-зонд-микроскопии на поверхности лазерных зеркал усредненного сигнала вариаций локальной контактной разности потенциалов, возникающих в действующем приборе при импульсном питании. Показано, что уровень измеряемого сигнала определяется степенью перезарядки медленных поверхностных состояний, взаимодействующих с неравновесными носителями заряда, концентрация которых прямо связана с током утечки. PACS: 42.55.Px, 42.60.By, 68.37.Ps, 63.25.+i
  1. Nonemacher M., O'Boyle M.P., Wickmarmasing H.K. // Appl. Phys. Lett. 1991. V. 58. P. 2921
  2. Kuntze S.B., Ban D., Sargent E.H., Dixon-Warren St.J., White J.K., Hinzer K. // Critical Reviews in Solid State and Materials Sciences. 2005. V. 30. P. 71
  3. L'e \hat veque G., Girard P., Skouri E., Yarekha D. // Appl. Surf. Sci. 2000. V. 157. P. 251
  4. Ballif C., Moutinho H.R., Al-Jassim M.M. // J. Appl. Phys. 2001. V. 89. P. 1448
  5. Ankudinov A.V., Evtikhiev V.P., Kotelnikov E.Yu., Titkov A.N., Laiho R. // J. Appl. Phys. 2003. V. 93. P. 432
  6. Анкудинов А.В., Евтихиев В.П., Ладутенко К.С., Титков А.Н., Laiho R. // ФТП. 2006. Т. 40. В. 8. С. 1009
  7. Ankudinov A.V., Evtikhiev V.P., Ladutenko K.S., Rastegaeva M.G., Titkov A.N., Laiho R. // J. Appl. Phys. 2007. V. 101. P. 024 504
  8. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2004
  9. www.ntmdt.ru
  10. Kronik L., Shapira Y. // Surf. Sci. Rep. 1999. V. 37. P. 1
  11. Wood S.A., Smowton P.M., Molloy C.H., Blood P., Somerford D.J., Button C.C. // Appl. Phys. Lett. 1999. V. 74. P. 2540
  12. Vurgaftman I., Meyer J.R., Ram-Mohan L.R. // J. Appl. Phys. 2001. V. 89. P. 5815
  13. Johnson E.O. // Phys. Rev. 1958. V. 101. P. 153
  14. Бедный Б.И., Василевский М.И., Карпович И.А. // ФТП. 1989. Т. 23. С. 362

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme