Природа белой фотолюминесценции в слоях SiO2 : C
Васин А.В.1, Кушниренко В.И.1, Лысенко В.С.1, Назаров А.Н.1, Ishikawa Yukari1, Salonen J.1
1Институт физики полупроводников им. В.Е. Лашкарева,, Киев, Украина Japan Fine Ceramics Center, Nagoya 456--, Japan Department of Physics, University of Turku, Turku F, Finland
Email: vl_kush@ukr.net
Поступила в редакцию: 6 февраля 2009 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2009 г.
Слои оксида кремния, инкорпорированного углеродом (SiO2 : C), были синтезированы методом последовательной термической карбонизации/окисления пористого кремния. Полученные слои SiO2 : C проявляли яркую белую фотолюминесценцию. Исследованы свойства излучения, возбуждения и релаксации белой фотолюминесценции слоев SiO2 : C. Установлено, что широкая полоса фотолюминесценции в действительности состоит как минимум из двух полос с максимумами интенсивности в зеленой и голубой области. На основании полученных данных предложена и обоснована модель возбуждения и излучательной рекомбинации в слоях SiO2 : C. PACS: 61.43.Dq, 68.55.-a, 78.55.Qr, 78.66.Jg
- Rebohle L., von Borany J., Frob H., Skorupa W. // Appl. Phys. B. 2000. V. 71. N 2. P. 131--151
- Hayashi S., Kataoka M., Yamamoto K. // Jpn. J. Appl. Phys. Part 2. 1993. V. 32. N 2B. P. L264--L276
- Seo S.-Y., Cho K.-S., Shin J.H. // Appl. Phys. Lett. 2004. V. 84. N 5. P. 717--719
- Yu Y.H., Wong S.P., Wilson I.H. // Phys. Stat. Sol. (a). 1998. V. 168. N 2. P. 531--534
- Zhao J., Mao D.S., Lin Z.X., Jiang B.Y., Yu Y.H., Liu X.H., Wang H.Z., Yang G.Q. // Appl. Phys. Lett. 1998. V. 73. N 13. P. 1838--1840
- Zhao J., Mao D.S., Lin Z.X., Jiang B.Y., Yu Y.H., Liu X.Y., Yang G.Q. // Mater. Lett. 1999. V. 38. N 5. P. 321--325
- Perez-Rodriguez A., Gonzalez-Varona O., Garrido B., Pellegrino P., Morante J.R., Bonafos C., Carrada M., Claverie A. // J. Appl. Phys. 2003. V. 94. N 1. P. 254--262
- Vasin A.V., Ishikawa Y., Shibata N., Salonen J., Lehto V.-P. // Jpn. J. Appl. Phys. 2007. V. 46. N 17--19. P. L465--L467
- Muto S., Vasin A.V., Ishikawa Y., Shivata N., Salonen J., Lehto V.-P. // Mater. Sci. Forum. 2007. V. 561--565. P. 1127--1130
- Kontkiewicz A.J., Kontkiewicz A.M., Siejka J., Sen S., Nowak G., Hoff A.M., Sakthivel P., Ahmed K., Mukherjee P., Witanachchi S., Lagowski J. // Appl. Phys. Lett. 1994. V. 65. N 11. P. 1436--1438
- Koyama H. // J. Appl. Phys. 1980. V. 51. N 4. P. 2228--2235
- Sagawa N., Uchino T. // Appl. Phys. Lett. 2005. V. 87. N 25. P. 251 923
- Shi L., Wang Q., Li Y., Xue Ch., Zhuang H. // Appl. Surf. Sci. 2006. V. 252. N 24. P. 8224--8427
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2023 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук