"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Использование режима оптической обратной связи для оценки крутизны модуляционной характеристики полупроводниковых лазеров
Соболев В.С.1, Уткин Е.Н.1
1Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск
Email: sobolev@iae.nsk.su
Поступила в редакцию: 7 ноября 2008 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2009 г.

Предлагается простой способ оценки крутизны изменения частоты излучения полупроводникового лазера под действием изменения инжекционного тока, основанный на явлениях оптической обратной связи. Крутизна определяется через значение частоты сигнала, получающегося на выходе встроенного в корпус лазера фотодиода, в результате интерференции исходного и рассеянного излучения. Приводится теоретическое обоснование предлагаемого способа, схема его реализации и результаты экспериментальной оценки конкретного лазерного диода. PACS: 42.55.Px
  1. Боухьюз Г., Браат Дж., Хэйсер А. и др. // Оптические дисковые системы. М.: Радио и связь, 1991. 280 с
  2. Lang R., Kobayashi S. // IEEE Journ. Quant. Electron. 1980. QE-16 (3). P. 347
  3. Giuliani G., Norgia M., Donati S., Bosch Th. // Journ. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2002. V. 4. P. 283
  4. Соболев В.С., Уткин Е.Н., Щербаченко А.М., Столповский А.А., Кащеева Г.А. // Автометрия. 2004. Т. 40 (6). С. 4

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.