Природа потерь в микролазерах с низким порогом генерации на основе кристалла LiF(F2, F+3) в области накачки
Щепина Л.И.1, Колесников С.С.1, Романовская Е.В.1
1Научно-исследовательский институт прикладной физики Иркутского государственного университета
Email: schepina@api.isu.runnet.ru
Поступила в редакцию: 30 июня 2003 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2003 г.
Впервые проведены исследования потерь методами оптической спектроскопии и рентгеноструктурного анализа в кристаллах Li(F2, F+3). Высказано предположение относительно природы 420 nm-центра как квазиметаллического дефекта (F2FL).
- Somma F., Belarouch A., Cathelinaud M. et al. // Rad. Eff. and Def. in Solids. 2001. V. 156. N 1--4. P. 151
- Kamikawa T., Kazumota Y., Ozawa K. // Phys. Stat. Sol. (b). 1966. V. 114. N 2. P. 435
- Журавлев К.С., Коляго С.С., Ли А.И. и др. Люминесценция и сопутствующие явления. Иркутск: Изд-во ИГУ, 2001. С. 109
- Montecchi M., Nichelatti E., Mancini A. // J. Appl. Phys. 1999. V. 86. N 7. P. 3745
- Щепина Л.И., Колесников С.С. и др. // Опт. и спектр. 2001. Т. 90. N 4. С. 622
- Necmeddin Yazycy, Zihni Ozturk // J. Phys. D: Appl. Phys. 2001. V. 34. P. 1592--1596
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук