"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Исследование электрофизических характеристик пленок YBa2Cu3O7-x различной толщины
Разумов С.В.1, Тумаркин А.В.1
1С.-Петербургский государственный электротехнический университет
Email: thinfilm@eltech.ru
Поступила в редакцию: 6 августа 2002 г.
Выставление онлайн: 20 января 2003 г.

Приведены результаты исследований электрофизических характеристик пленок высокотемпературного сверхпроводника YBa2Cu3O7-x, полученных методом ионно-плазменного распыления на подложках сапфира. Установлены зависимости поверхностного сопротивления и плотности критического тока от толщины пленок.
  1. Tian Y.J., Guo L.P., Li L. et al. // Appl. Phys. Lett. 1994. V. 65. N 2. P. 234--236
  2. Kozyrev A.B., Hollmann E.K., Ivanov A.V. et al. // Integrated Ferroelectrics. 1997. V. 17. P. 257--262
  3. Гольман Е.К., Разумов С.В., Тумаркин А.В. // Письма в ЖТФ. 1999. Т. 25. В. 11. С. 47--51
  4. Гольман Е.К., Гольдрин В.И., Плоткин Д.А. и др. // Письма в ЖТФ. 1996. Т. 22. В. 22. С. 82--84
  5. Гольман Е.К., Гольдрин В.И., Плоткин Д.А. и др. // ФТТ. 1997. Т. 39. В. 2. С. 216--218

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.