Физика твердого тела

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2025
- 1 2 3 4 5 6 7 8
2024
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

In situ исследование роста филаментов в пленках стабилизированного диоксида циркония методом контактной емкостной атомно-силовой микроскопии

Филатов Д.О.¹, Сорочкина Е.Д.¹, Антонов Д.А.¹, Антонов И.Н.¹, Горшков О.Н.¹

¹Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия Lobachevsky State University, Nizhny Novgorod, Russia

Lobachevsky State University, Nizhny Novgorod, Russia

Email: dmitry_filatov@inbox.ru

Поступила в редакцию: 21 мая 2025 г.

В окончательной редакции: 25 июня 2025 г.

Принята к печати: 7 июля 2025 г.

Выставление онлайн: 11 сентября 2025 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Методом контактной емкостной атомно-силовой микроскопии исследованы процессы электроформовки и резистивного переключения в тонкой пленке стабилизированного иттрием диоксида циркония на проводящей подложке. В процессе линейной развертки напряжения между зондом и подложкой, наблюдалось нелинейное увеличение емкости зонд-образец, связанное с формированием в слое диэлектрика под зондом кластера, состоящего из вакансий кислорода (проводящего филамента). При последующем циклическом переключении пилообразным напряжением наблюдалось циклическое увеличение и уменьшение емкости зонд-образец, связанное с соответствующими изменениями размеров филамента под действием электрического поля между зондом и подложкой. Результаты настоящей работы демонстрируют возможности метода контактной емкостной микроскопии для исследования динамики филаментов в процессе резистивного переключения в оксидных пленках. Ключевые слова: мемристор, резистивное переключение, филамент, контактная емкостная атомно-силовая микроскопия, стабилизированный диоксид циркония.

Y. Xiao, B. Jiang, Z. Zhang, S. Ke, Y. Jin, X. Wen, C. Ye. Sci. Technol. Adv. Mater. 24, 1, 2162323 (2023). DOI: 10.1080/14686996.2022.216232
D. Zhu, Y. Li, W. Shen, Z. Zhou, L. Liu, X. Zhang. J. Semicond. 38, 7, 071002 (2017). DOI: 10.1088/1674-4926/38/7/071002
J. Zhu, T. Zhang, Yu. Yang, R. Huang. Appl. Phys. Rev. 7, 1, 011312 (2020). DOI: 10.1063/1.5118217
F. Zahoor, T.Z.A. Zulkifli, F.A. Khanday. Nanoscale Res. Lett. 15, 1, 90 (2020). DOI: 10.1186/s11671-020-03299-9
D. Ielmini. Semicond. Sci. Technol. 31, 6, 063002 (2016). DOI: 10.1088/0268-1242/31/6/063002
S.H. Lee, X. Zhu, W.D. Lu. Nano Res. 13, 1228 (2020). DOI: 10.1007/s12274-020-2616-0
Y. Yang, Y. Takahashi, A. Tsurumaki-Fukuchi, M. Arita, M. Moors, M. Buckwell, A. Mehonic, A.J. Kenyon. J. Electroceramics 39, 73 (2017). DOI: 10.1007/s10832-017-0069-y
M. Lanza. Materials 7, 2155 (2014). DOI: 10.3390/ma7032155
M.A. Ryabova, D.A. Antonov, A.V. Kruglov, I.N. Antonov, D.O. Filatov, O.N. Gorshkov. J. Phys.: Conf. Ser. 2086, 01220 (2021). DOI: 10.1088/1742-6596/2086/1/012205
C. Daniel Frisbie. In: Encyclopedia of Physical Science and Technology (3rd Edition) / Ed. R.A. Meyers. Elsevier, Amsterdam (2003). P. 469--484. DOI: 10.1016/B0-12-227410-5/00675-X
E.W. Lim, R. Ismail. Electronics 4, 3, 586 (2015). DOI:10.3390/electronics4030586
Контактная Сканирующая Емкостная микроскопия (Измерительный вкладыш AU030). Руководство по эксплуатации. НТ-МДТ. М. (2010). 28 с.]
D.B. Strukov, G.S. Snider, D.R. Stewart, R.S. Williams. Nat. Mater. 453, 80 (2008). DOI: 10.1038/nature06932
Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Теория упругости. Физматлит, М. (2003). 269 с
D.O. Filatov, D.A. Antonov, O.N. Gorshkov, A.P. Kasatkin, D.A. Pavlov, V.N. Trushin, I.A. Antonov, M.E. Shenina. In: Atomic Force Microscopy (AFM): Principles, Modes of Operation and Limitations / Ed. H. Yang. Nova Science, N.Y. (2014). P. 335
S. Tikhov, O. Gorshkov, I. Antonov, A. Morozov, M. Koryazhkina, D. Filatov. Adv. Condens. Matter Phys. 8, 2028491 (2018). DOI 10.1155/2018/2028491
A. Mikhaylov, A. Belov, D. Korolev, I. Antonov, V. Kotomina, A. Kotina, E. Gryaznov, A. Sharapov, M. Koryazhkina, R. Kryukov, S. Zubkov, A. Sushkov, D. Pavlov, S. Tikhov, O. Morozov, D. Tetelbaum. Adv. Mater. Technol. 5, 1, 1900607 (2020). DOI: 10.1002/admt.201900607
G.P. Cousland, X.Y. Cui, S. Ringer, A.E. Smith, A.P.J. Stampfl, C.M. Stampfl. J. Phys. Chem. Solids 75, 11, 1252 (2014). DOI: 10.1016/j.jpcs.2014.05.015

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель