Физика твердого тела
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Компонентный состав и упругие напряжения в многослойных структурах с наноостровками Si1-xGex
1Институт физики полупроводников Национальной академии наук Украины, Киев, Украина
2Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
2Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Email: valakh@isp.kiev.ua
Выставление онлайн: 20 декабря 2003 г.
С помощью спектроскопии КРС определены компонентный состав и механические напряжения в Si1-xGex-наноостровках, содержащихся в многослойной и однослойной структурах, выращенных в одинаковых условиях. Показано, что возрастание содержания кремния в островках в многослойной структуре не приводит к большей (по сравнению с одиночным слоем островков) их релаксации из-за отсутствия свободной поверхности. Экспериментально получен спектр рассеяния на свертках акустических фононов с довольно малыми полуширинами полос, что свидетельствует о высоком качестве выращенных сверхрешеток с наноостровками. Работа выполнена при поддержке Украинско-российской программы "Нанофизика" и INTAS-проекта N 01-444.
- V.V. Mitin, V.A. Kochelap, M.A. Strocio. Quantum Heterostructures. Microelectronics and Optoelectronics. Cambrige University Press, Cambrige (1999)
- О.П. Пчеляков, Ю.Б. Болховитняков, А.В. Двуреченский, Л.В. Соколов, А.И. Никифоров, А.И. Якимов, Б. Фойхтландер. ФТП 34, 11, 1281 (2000)
- C. Teichert. Phys. Rep. 365, 335 (2002)
- D.A. Tenne, V.A. Haisler, A.I. Toropov, A.K. Bakarov, A.K. Gutakovsky, D.T.A. Zahn, A.P. Shebanin. Phys. Rev. B 61, 20, 13 785 (2000)
- O.G. Schmidt, K. Eberl. Phys. Rev. B 61, 20, 13 721 (2000)
- J. Groenen, R. Carles, S. Christiansen, M. Albrecht, W. Dorsch, H.P. Strunk, H. Wawra, G. Wagner. Appl. Phys. Lett. 71, 26, 3856 (1997)
- Z.F. Krasil'nik, P.M. Lytvyn, D.N. Lobanov, N. Mestres, A.V. Novikov, J. Pascual, M.Ya. Valakh, V.A. Yukhymchuk. Nanotechnology 13, 81 (2002)
- A.V. Novikov, B.A. Andreev, N.V. Vostokov, S.A. Gusev, Yu.N. Drozdov, Z.F. Krasilnik, D.N. Lobanov, L.D. Moldavskaya, A.N. Yablonskiy, M. Miura, N. Usami, Y. Shiraki, M.Ya. Valakh, N. Mestres, J. Pascual. Mat. Sci. Eng. B 89, 62 (2002)
- J.C. Tsang, P.M. Mooney, F. Dacol, J.O. Chu. J. Appl. Phys. 75, 12, 8096 (1994)
- S. De Gironcoli, E. Molinari, R. Schorer, R. Abstreiter. Phys. Rev. B 48, 12, 8959 (1993)
- R. Schorer, G. Abstreiter, S. De Gironcoli, E. Molinary, H. Kibbel, H. Presting. Phys. Rev. B 49, 8, 5406 (1994)
- C. Colvard, T.A. Gant, M.V. Klein, R. Merlin, R. Fisher, H. Morkoc, A.C. Gossard. Phys. Rev. B 31, 4, 2080 (1985)
- A.B. Talochkin, V.A. Markov, Yu.A. Pusep, O.P. Pchelyakov, M.P. Sinyukov. Supelatt. Microstruct. 10, 2, 179 (1991)
- С.М. Рытов. Акуст. журн. 2, 1, 71 (1956)
- A. Milekhin, N.P. Stepina, A.I. Yakimov, A.I. Nikiforov, S. Schulze, D.R.T. Zhan. Eur. Phys. J. B 16, 355 (2000)
- M. Cazayous, J. Groenen, J.R. Huntzinger, A. Mlayah, O.G. Schmidt. Phys. Rev. B 64, 033 306 (2001)
- M. Cazayous, J. Groenen, A. Zwick, A. Mlayah, R. Carles, J.L. Bischoff, D. Dentel. Phys. Rev. B 62, 195 320 (2002)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
