Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2024, выпуск 18 » Статья стр. 15
<<<>>>
Исследование методами электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии длины свободного пробега электрона в нанопленках иттербия
Russian Science Foundation , 23-22-00052
Кузьмин М.В. 1, Митцев М.А.1, Ремеле В.Е. 1, Сорокина С.В. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: m.kuzmin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 16 февраля 2024 г.
В окончательной редакции: 17 мая 2024 г.
Принята к печати: 24 мая 2024 г.
Выставление онлайн: 13 августа 2024 г.
PDF версия
С помощью методов электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии измерена длина свободного пробега электрона в иттербии. Показано, что ее величина является аномально высокой в двухвалентных металлических пленках (~ 13-15 Angstrem при энергии 92 eV). При переходе иттербия в трехвалентное состояние длина свободного пробега становится близка к средним значениям для большинства металлов. Это связано с промотированием 4f-электрона на 5d-уровень в валентной зоне и увеличением сечения возбуждения плазмонных потерь в пленках Yb3+. Ключевые слова: длина свободного пробега, электронная спектроскопия, иттербий, электронная структура.
  1. D.-N. Le, H.T. Nguyen-Truong, J. Phys. Chem. C, 125 (34), 18946 (2021). DOI: 10.1021/acs.jpcc.1c05212
  2. J.M. Gong, K. Tokesi, X. Liu, B. Da, H. Yoshikawa, S. Tanuma, Z.J. Ding, Results Phys., 51, 106609 (2023). DOI: 10.1016/j.rinp.2023.106609
  3. M.P. Seah, W.A. Dench, Surf. Interface Anal., 1 (1), 2 (1979). DOI: 10.1002/sia.740010103
  4. В.Ф. Кулешов, Ю.А. Кухаренко, С.А. Фридрихов, В.И. Запорожченко, В.И. Раховский, А.Г. Наумовец, А.Е. Городецкий, Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел (Наука, М., 1985), с. 115-116
  5. F. Gerken, J. Barth, R. Kammerer, L.I. Johanson, A. Flodstrom, Surf. Sci., 117 (1-3), 468 (1982). DOI: 10.1016/0039-6028(82)90531-3
  6. М.В. Кузьмин, М.А. Митцев, ЖТФ, 90 (8), 1359 (2020). DOI: 10.21883/JTF.2020.08.49548.81-20 [M.V. Kuz'min, M.A. Mittsev, Tech. Phys., 65 (8), 1307 (2020). DOI: 10.1134/S1063784220080125]
  7. C.J. Powell, A. Jablonski, NIST Electron Inelastic-Mean-Free-Path Database: version 1.2, SRD 71 (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, 2010). DOI: 10.18434/T48C78
  8. R. Hofmann, W.A. Henle, F.P. Netzer, M. Neuber, Phys. Rev. B, 46 (7), 3857 (1992). DOI: 10.1103/PhysRevB.46.3857
  9. G. Rossi, D. Chandesris, P. Roubin, J. Lecante, Phys. Rev. B, 33 (4), 2926 (1986). DOI: 10.1103/PhysRevB.33.2926
  10. E.R. Ylvisaker, J. Kunev s, A.K. McMahan, W.E. Pickett, Phys. Rev. Lett., 102 (24), 246401 (2009). DOI: 10.1103/PhysRevLett.102.246401
  11. Д.В. Бутурович, М.В. Кузьмин, М.А. Митцев, Письма в ЖТФ, 38 (21), 22 (2012). https://journals.ioffe.ru/articles/14498 [D.V. Buturovich, M.V. Kuz'min, M.A. Mittsev, Tech. Phys. Lett., 38 (11), 969 (2012). DOI: 10.1134/S1063785012110053]
  12. H.T. Hall, J.D. Barnett, L. Merrill, Science, 139 (3550), 111 (1963). DOI: 10.1126/science.139.3550.111
  13. K. Iakoubovskii, K. Mitsuishi, Y. Nakayama, K. Furuya, Phys. Rev. B, 77 (10), 104102 (2008). DOI: 10.1103/PhysRevB.77.104102
  14. М.В. Кузьмин, М.А. Митцев, ФТТ, 53 (3), 569 (2011). https://journals.ioffe.ru/articles/1370 [M.V. Kuz'min, M.A. Mitsev, Phys. Solid State, 53 (3), 612 (2011). DOI: 10.1134/S1063783411030152]

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme