Письма в журнал технической физики
Электронная почта:
tpl@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Письма в журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Home
»
Письма в журнал технической физики
»
Год 1991, выпуск 12
<<<
>>>
Письма в журнал технической физики, 1991, том 17, выпуск 12
Бахадырханов М.К., Зикриллаев Н.Ф., Арзикулов Э.У.
Влияние упругости паров диффузанта на концентрацию электроактивных атомов и степень компенсации образцов Si<Zn>
1
Ананьин О.Б., Быковский Ю.А., Журавлев А.А., Знаменский В.Ю.
Фотоэлектронная эмиссия с поверхностей материалов под действием импульсного коротковолнового излучения
5
Козаков А.Т., Никольский А.В., Мазурицкий М.И., Кулов С.К., Панасюк Б.А., Полянский М.И., Панасюк М.М., Асламурзаев К.С.
Связь особенностей диффузии свинца с механизмом формирования поверхностного слоя в свинцовосиликатных стеклах и микроканальных пластинах
9
Благовещенская Т.А., Филатова Е.О.
Влияние технологии полировки alpha-кварца на характеристики отражения и рассеяния ультрамягкого рентгеновского излучения
14
Рыжов В.В., Сапожников А.А., Турчановский И.Ю.
Предельные значения выхода СЖР излучения при торможении электронов
17
Гавриков М.Б., Соловьев Л.С.
Одномерные движения плазмы в двухжидкостной электромагнитной газодинамике
22
Загребин А.Л.
Столкновительный радиационный распад метастабильных состояний
3
P
2
в инертных газах
28
Сумецкий М.Ю., Фельштын М.Л.
Прямая и обратная задача для СТМ-изображения нанометрового диэлектрического кластера на поверхности проводника
34
Никитин С.А., Аннаоразов М.П., Tишин A.M., Тюрин А.Л., Асатрян К.А.
Использование фазового перехода антиферромагнетизм-ферромагнетизм в сплавах Fe-Rh для магнитного охлаждения
38
Васильева Е.К., Морозов С.Н.
Сравнительный анализ возбуждения атомов Dy при ионно- и электронно-атомных столкновениях и в распылении
43
Андреев А.Д., Рыжов В.В.
108.9 нм Xe Оже-лазер с накачкой "атомным" тормозным излучением пучка протонов
47
Василенко О.И.
Ламинарные электронные потоки в системах транспортировки с прямолинейными образующими
51
Багмут А.Г.
Влияние кислородной среды при лазерном напылении пленок золота
56
Буряков И.А., Крылов Е.В., Макась А.Л., Назаров Э.Г., Первухин В.В., Расулев У.Х.
Разделение ионов по подвижности в переменном электрическом поле высокой напряженности
60
Богомаз А.А., Горячев В.Л., Ременный А.С., Рутберг Ф.Г.
Об эффективности импульсного электрического разряда при обеззараживании воды
65
Окунев Р.И., Пахомов Л.Н., Петраков А.Г.
Селекция спектра излучения лазера на парах меди
69
Мельников Л.А., Татарков Г.Н.
Низкочастотная модуляция огибающей субнаносекундных импульсов при активной синхронизации мод ИАГ : Nd-лазера
73
Мельников С.П., Синянский А.А.
Расчет пороговых характеристик лазера с ядерной накачкой на переходах атома ксенона
78
Завилопуло А.Н., Жуков А.И., Снегурский А.В.
Исследование электрофизических свойств солнечных элементов в присутствии атомов металлов
83
Борзенко Т.Б., Николайчик В.И.
Формирование нанометровых структур в неорганическом резисте
88
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук