"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Разработка системы низкопрофильного дефлектометра комбинированных систем сканирующей зондовой и оптической микроскопии
Российский научный фонд, 18-19-00718
Мезин А.В.1, Ефимов А.Е. 2, Соловьева Д.О. 1, Васкан И.С. 1,3, Олейников В.А. 1, Мочалов К.Е. 1
1Институт биоорганической химии им. академиков М.М. Шемякина и Ю.А. Овчинникова РАН, Москва, Россия
2Национальный медицинский исследовательский центр трансплантологии и искусственных органов им. ак. В.И. Шумакова Минздрава России, Москва, Россия
3Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Долгопрудный, Московская обл., Россия
Email: antefimov@gmail.com, d.solovieva@mail.ru, mochalov@mail.ru, voleinik@mail.ru
Поступила в редакцию: 9 октября 2020 г.
В окончательной редакции: 3 декабря 2020 г.
Принята к печати: 3 декабря 2020 г.
Выставление онлайн: 12 января 2021 г.

Разработана, изготовлена и испытана система низкопрофильного СЗМ-дефлектометра (СЗМ - сканирующая зондовая микроскопия), позволяющая повысить апертуру подводимых объективов до рекордной на данный момент величины NA=0.75. Внедрение такой системы позволит существенно улучшить показатели оптических методик комбинированных систем СЗМ/оптическая микроспектроскопия. Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, оптическая микроспектроскопия, корреляционная микроскопия, СЗМ-дефлектометр.
  1. J. Caplan, M. Niethammer, R.M. Taylor II, K.J. Czymmek, Curr. Opin. Struct. Biol., 21 (5), 686 (2011). DOI: 10.1016/j.sbi.2011.06.010
  2. T.L. Burnett, P.J. Withers, Nature Mater., 18, 1041 (2019). DOI: 10.1038/s41563-019-0402-8
  3. B. Joosten, M. Willemse, J. Fransen, A. Cambi, K. van den Dries, Front. Immunol., 9, 1908 (2018). DOI: 10.3389/fimmu.2018.01908
  4. L. Novotny, B. Hecht, Principles of nano-optics, 2nd ed. (Cambridge University Press, Cambridge, 2012), p. 133
  5. K.E. Mochalov, A.A. Chistyakov, D.O. Solovyeva, A.V. Mezin, V.A. Oleinikov, I.S. Vaskan, M. Molinari, I.I. Agapov, I. Nabiev, A.E. Efimov, Ultramicroscopy, 182, 118 (2017). DOI: 10.1016/j.ultramic.2017.06.022
  6. https://www.ntmdt-si.ru/products/afm-raman-nano-ir-systems/ ntegra-spectra-ii
  7. A.E. Efimov, I.I. Agapov, O.I. Agapova, V.A. Oleinikov, A.V. Mezin, M. Molinari, I. Nabiev, K.E. Mochalov, Rev. Sci. Instrum., 88, 023701 (2017). DOI: 10.1063/1.4975202
  8. http://nanoscantech.com/ru/products/spm/spm-72.html

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.