Экспериментальное исследование величины встроенного поля в межзеренных каналах тонких сегнетоэлектрических пленок Pb(Zr,Ti)O3
Делимова Л.А.1, Юферев В.С.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: ladel@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 27 июля 2012 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2013 г.
Измеренная в тонкопленочных M/Pb(Zr,Ti)O3(PZT)/M-конденсаторах зависимость фотоэдс от остаточной поляризации хорошо согласуется с развитой нами моделью межзеренного фотовольтаического эффекта для пленок со столбчатой структурой зерен PZT и гетерофазными межзеренными границами. В этом случае фотоэдс задается деполяризующим полем, которое генерируется нескомпенсированным поляризационным зарядом на границах PZT-зерен. Показано, что величину и направление встроенного поля в межзеренном канале таких PZT-пленок можно определить с помощью измерений фотоэдс при нулевой поляризации с чувствительностью порядка милливольт. Работа поддержана грантом РФФИ N 10-02-00562а, программой Президиума РАН N 22 "Основы фундаментальных исследований нанотехнологий и наноматериалов", программой ОФН.
- A.L. Kholkin, V.K. Yarmarkin, B.M. Goltsman, J.L. Baptista. Integrated Ferroelectrics 35, 261 (2001)
- M. Qin, K. Yao, Y.C. Liang. J. Appl. Phys. 105, 061 624 (2009)
- G. Gerlach, G. Suchaneck, R. Kohler, T. Sandner. Ferroelectrics 230, 109 (1999)
- M. Kobune, H. Ishito, A. Mineshige, S. Fujii, R. Takayama, A. Tomozawa. Jpn J. Appl. Phys. 37, 5154 (1998)
- V.P. Afanasjev, A.A. Petrov, I.P. Pronin, E.A. Tarakanov, E.Yu. Kaptelov, J. Graul. J. Phys.: Cond. Matter 13, 8755 (2001)
- J.F. Scott, K. Watanabe, A.J. Hartmann, R.N. Lamb. Ferroelectrics 225, 83 (1999)
- S. Okamura, S. Miyata, Y. Mizutani, T. Nishida, T. Shiosaki. Jpn. J. Appl. Phys. 38, 5364 (1999)
- В.П. Афанасьев, Г.Н. Мосина, А.А. Петров, И.П. Пронин, Л.М. Сорокин, Е.А. Тараканов. Письма в ЖТФ 27, 11, 56 (2011)
- K. Ogata, K. Suenaga, K. Horikoshi, K. Yoshizumi, H. Kato, M. Mori. Ferroelectrics 225, 163 (1999)
- K. Lee, J.-M. Ku, C.-R. Cho, Y.K. Lee, S. Shin, Y. Park. J. Semicond. Technol. Sci. 2, 205 (2002)
- G.-S. Park, I.-S. Chung. Jpn. J. Appl. Phys. 41, Pt I, 1519 (2002)
- L.F. Fu, S.J. Welz, N.D. Browning, M. Kurasawa, P.C. McIntyre. Appl. Phys. Lett. 87, 262 904 (2005)
- H. Fujisawa, M. Shimizu, T. Horiuchi, T. Shiosaki, K. Matsushige. Appl. Phys. Lett. 71, 416 (1997)
- L.A. Delimova, V.S. Yuferev, A.V. Ankudinov, E.V. Gushcnina, I.V. Grekhov. MRS Proc. 1292 mrsf10-1291-k03-31 (2011); doi: 10.1551/opl.2011.367 http://journals.cambridge.org/abstract\_S1946427411003678
- L.A. Delimova, V.S. Yuferev, I.V. Grekhov. IEEE Trans. on UFFC 58, 2252 (2011)
- L.A. Delimova, V.S. Yuferev. J. Appl. Phys. 108, 084 110 (2010)
- L.A. Delimova, I.V. Grekhov, D.V. Mashovets, I.E. Titkov, V.P. Afanasiev, P.V. Afanasiev, G.P. Kramar, A.A. Petrov. Ferroelectrics 348, 25 (2007)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.