Издателям
Вышедшие номера
Влияние предварительного окислительного отжига на свойства пористого кремния, пропитанного вольфрам-теллуритным стеклом, активированным Er и Yb
Демидов Е.С.1,2, Карзанова М.В.1,2, Чигиринский Ю.И.2, Шушунов А.Н.2, Антонов И.Н.2, Сидоренко К.В.2
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
2Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: demidov@phys.unn.ru
Поступила в редакцию: 17 июля 2012 г.
Выставление онлайн: 20 января 2013 г.

Изучено влияние предварительного окислительного отжига пористого кремния (ПК) на фотолюминесценцию (ФЛ) при лазерной накачке на длинах волн 532 и 980 nm, ЭПР и поперечный транспорт тока структур на основе ПК с вплавленным вольфрам-теллуритным стеклом (ВТС), легированным Er и Yb. Показано, что такой отжиг и наличие нанокристаллов кремния (nc-Si) в ПК способствуют многократному усилению ФЛ как ионов Er в ВТС, так и nc-Si в ПК на длинах волн 750 и 1540 nm соответственно. При вплавлении ВТС в ПК подавляются Pb-центры безызлучательной рекомбинации, сохраняется дискретное туннелирование электронов сквозь nc-Si-гранулы в ПК. Работа выполнена при поддержке гранта РФФИ 08-02-97044р и в рамках АВЦП "Развитие научного потенциала высшей школы", ФЦП "Научные и научно-педагогические кадры инновационной России" на 2009-2013 гг.
  1. M. Fujii, M. Yoshida, S. Hayashi, K. Yamamoto. J. Appl. Phys. 84, 2, 4525 (1998)
  2. G. Franzo, D. Pacifici, V. Vinciguerra, F. Priolo, F. Iacona. J. Appl. Phys. Lett. 76, 16, 2167 (2000)
  3. P.G. Kik, M.L. Brongersma, A. Polman. J. Appl. Phys. Lett. 76, 17, 2325 (2000)
  4. M. Fujii, S. Hayashi, K. Yamamoto. J. Appl. Phys. Lett. 73, 21, 3108 (1998)
  5. A. Kozanecki, D. Kuritsyn, W. Jantsch. Opt. Mater. 28, 6--7, 850 (2006)
  6. A.O.G. Dikovska, P.A. Atanasov, M. Jimenez de Castro, A. Perea, J. Gonzalo, C.N. Afonso, J. Garcia Lopez. Thin Solid Films 500, 1--2, 336 (2005)
  7. Q. Song, Ch. Li, J. Li, W. Ding, S. Li, J. Xu, X. Deng, Ch. Song. Opt. Mater. 28, 1344 (2006)
  8. Е.С. Демидов, В.В. Карзанов, В.Г. Шенгуров. Письма в ЖЭТФ 67, 10, 794 (1998)
  9. Е.С. Демидов, Н.Е. Демидова. Вестн. ННГУ. Сер. ФТТ 1, 22 (2005)
  10. Е.С. Демидов, А.Н. Михайлов, А.И. Белов, М.В. Карзанова, Н.Е. Демидова, Ю.И. Чигиринский, А.Н. Шушунов, Д.И. Тетельбаум, О.Н. Горшков, Е.А. Европейцев. ФТТ 53, 12, 2294 (2011)
  11. J. Zhang, Sh. Dai, G. Wang, H. Sun, L. Zhang, L. Hu. J. Lumin. 115, 1--2, 45 (2005).
  12. Ю.М. Сорокин, В.С. Ширяев. Оптические потери в световодах. Изд-во ННГУ, Нижний Новгород (2000). 324 с
  13. Н.Е. Демидова. Автореф. канд. дис. ННГУ им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород (2010). 18 с
  14. Е.С. Демидов, Н.Е. Демидова, В.В. Карзанов, К.А. Марков, В.В. Сдобняков. ФТТ 51, 1894 (1997)
  15. Y. Ohishi, A. Mori, М. Yamada, H. Ono, T. Kanamori, T. Shimada. Tellurite glass optical amplifier and light source. Assignee: Nippon Telegraph and Telefon Corporation, Shinjuku-ku (JP). Patent USA, N: US 6,266,181 B1. 24.07.2001
  16. Н.Е. Алексеев, В.П. Гапонцев, М.Е. Жаботинский, В.Б. Кравченко, Ю.П. Рудницкий. Лазерные фосфатные стекла. Наука, М. (1980). С. 284
  17. A. Stesmans, V.V. Afanas'ev. J. Phys.: Cond. Matter. 10, 1, L19 (1998).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.