Вышедшие номера
Скачки деформации при наноиндентировании кристаллов CrSBr
Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда , 25-72-31032
Гусенков Д.Л.1,2, Чиглинцев Э.О.3, Тюрин А.И.4, Коренков В.В.4, Куницына Е.И.1,2,5, Калинин Ю.Е.6, Костюченко А.В.6, Чернов А.И.3, Савин В.В.5, Моргунов Р.Б. 1,2,5
1Федеральный исследовательский центр проблем химической физики и медицинской химии РАН, Черноголовка, Россия
2ФГАОУ ВО 1-й МГМУ им. И.М. Сеченова Минздрава России (Сеченовский университет), Москва, Россия
3Центр фотоники и двумерных материалов, МФТИ, Долгопрудный, Россия
4Тамбовский государственный университет им. Г.Р. Державина, Тамбов, Россия
5Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта, Калининград, Россия
6Воронежский государственный технический университет, Воронеж, Россия
Email: spintronics2022@yandex.ru
Поступила в редакцию: 20 марта 2026 г.
В окончательной редакции: 24 апреля 2026 г.
Принята к печати: 24 апреля 2026 г.
Выставление онлайн: 2 июня 2026 г.

Выполнен анализ межслоевых взаимодействий в формировании механических свойств двумерных материалов. Контролируемое внедрение индентора на несколько атомных слоев лимитируется боковым отслоением двумерного материала, что позволяет оценить энергию эксфолиации слоев CrSBr. Предложен экспресс-метод определения энергии эксфолиации по данным наноиндентирования. Полученные результаты важны для проектирования и создания нанослоистых структур на основе двумерных полупроводников. Ключевые слова: двумерные полупроводники, стехиометрия, модуль Юнга, нанотвердость.
  1. P. Zhang, T.-F. Chung, Q. Li, S. Wang, Q. Wang, W.L.B. Huey, S. Yang, J.E. Goldberger, J. Yao, X. Zhang. Nature Mater. 21, 12, 1373 (2022)
  2. A. Kudlis, M. Kazemi, Y. Zhumagulov, H. Schrautzer, A.I. Chernov, P.F. Bessarab, I.V. Iorsh, I.A. Shelykh. Phys. Rev. B 108, 9, 094421 (2023)
  3. V. Semkin, A. Shabanov, K. Kapralov, M. Kashchenko, A. Sobolev, I. Mazurenko, V. Myltsev, E. Nikulin, A. Chernov, E. Kameneva, A. Bocharov, D. Svintsov. Adv. Opt. Mater. 13, 12, 2403189 (2025)
  4. E.J. Telford, D.G. Chica, M.E. Ziebel, K. Xie, N.S. Manganaro, C.-Y. Huang, J. Cox, A.H. Dismukes, X. Zhu, J.P.S. Walsh, T. Cao, C.R. Dean, X. Roy. Adv. Phys. Res. 2, 11, 2300036 (2023)
  5. C. Wang, X. Zhou, L. Zhou, N.-H. Tong, Z.-Y. Lu, W. Ji. Sci. Bull. 64, 5, 293 (2019)
  6. R. de Moraes Telles Araujo, J. Zarpellon, D.H. Mosca. J. Phys. D: Appl. Phys. 55, 28, 283003 (2022)
  7. S.N. Kajale, J. Hanna, K. Jang, D. Sarkar. Nano Res. 17, 2, 743 (2024)
  8. A. Kumar, K. Sharma, A.R. Dixit. J. Mater. Sci. 54, 3, 5992 (2019)
  9. I. Petrushenko, J. Nano-Electron. Phys. 5 (2013)
  10. Y.Y. Sun, W.Y. Ruan, X. Gao, J. Bang, Y.-H. Kim, K. Lee, D. West, X. Liu, T.-L. Chan, M.Y. Chou, S.B. Zhang. Phys. Rev. B 85, 19, 195464 (2012)
  11. A.A. Bayramov, A.G. Gasanov. Tech. Phys. 66, 3, 416 (2021).]
  12. W.C. Oliver, G.M. Pharr. J. Mater. Res. 7, 6, 1564 (1992)
  13. Z.H. Mahmoud, H.N.K. Al-Salman, E. Kianfar. Nano TransMed 3, 100057 (2024)
  14. Д.Л. Гусенков, Р.А. Валеев, В.П. Пискорский, А.И. Чернов, Р.Б. Моргунов. ФТТ 67, 2, 295 (2025)
  15. S.W. Song, J. Klein, K. Mosina, Z. Sofer, D. Sedmidubsky, J. Dong, K. Chen, F.M. Ross, R. Jaramillo. J. Phys. Chem. C 129, 42, 19002 (2025)
  16. D.L. Gusenkov, A.I. Tiurin, M.V. Bakhmetiev, E.I. Kunitsyna, E.O. Chiglintsev, M.K. Tatmyshevskiy, A.I. Chernov, R.B. Morgunov. J. Phys. Chem. Solids 199, 112589 (2025)
  17. W.C. Oliver, G.M. Pharr. J. Mater. Res. 19, 1, 3 (2004)
  18. ISO 14577-1 to 3 (2002), ISO 14577-4 (2007): Metallic materials --- instrumented indentation test for hardness and materials parameters, Parts 1-4
  19. O. Goser, W. Paul, H.G. Kahle. J. Magn. Magn. Mater. 92, 1, 129 (1990)
  20. T.Y. Zhang, W.-H. Xu. J. Mater. Res. 17, 7, 1715 (2002)
  21. Y. Chen, Z.-X. Bo, H.B. Zhou, B.-A. Sun, Y.H. Sun, R. Maab, W.H. Wang. Scripta Materialia 259, 116549 (2025)
  22. Y. Sato, S. Shinzato, T. Ohmura, T. Hatano, S. Ogata. Nature Commun. 11, 1, 4177 (2020)
  23. T.L. Li, Y.F. Gao, H. Bei, E.P. George. J. Mech. Phys. Solids 59, 6, 1147 (2011)
  24. H. Li, Y. Yang, Z. Xia, Y. Wang, J. Wei, J. He, R. Wang. arXiv:2502.03739 (2025)
  25. P. Zhu, Y. Zhao, S. Agarwal, J. Henry, S.J. Zinkle. Mater. Des. 213, 110317 (2022)
  26. T.Y. Tsui, W.C. Oliver, G.M. Pharr. MRS Online Proc. Libr. 436, 207 (1996)
  27. S. Dey, D.L. Esteras, J.J. Baldovi. J. Phys.: Mater. 8, 2, 025013 (2025)
  28. L.G. Rosenfeld, J.E. Ritter, T.J. Lardner, M.R. Lin. J. Appl. Phys. 67, 7, 3291 (1990)
  29. W. Wang, S. Dai, X. Li, J. Yang, D.J. Srolovitz, Q. Zheng. Nature Commun. 6, 1, 7853 (2015)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.