Вышедшие номера
Наноструктура, диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства гетероструктуры BiFeO3/SrTiO3, выращенной на подложке Pt/Al2O3 (001) методом ВЧ-катодного распыления
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Государственное задание ЮНЦ РАН, 125011400232-3
Матяш Я.Ю. 1, Макинян Н.В. 1, Павленко А.В. 1
1Федеральный исследовательский центр Южный научный центр РАН, Ростов-на-Дону, Россия
Email: matyash.ya.yu@gmail.com, norair.makinyan@yandex.ru, tolik_260686@mail.ru
Поступила в редакцию: 25 февраля 2026 г.
В окончательной редакции: 7 марта 2026 г.
Принята к печати: 11 марта 2026 г.
Выставление онлайн: 22 апреля 2026 г.

С использованием методов рентгендифракционного анализа, диэлектрической спектроскопии и атомно-силовой микроскопии исследованы фазовый состав, наноструктура, диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства гетероструктуры BiFeO3/SrTiO3/Pt/Al2O3 (c-срез). Показано, что слои BiFeO3 и SrTiO3 были выращены поликристаллическими текстурированными в направлении кристаллографической оси [111], параллельной нормали к подложке Al2O3. Установлено, что гетероструктуре свойственны высокие величины спонтанной поляризации (деградации характеристик не наблюдается вплоть до 108 циклов переключения), малые токи утечки, а значения ε в диапазоне T=83-493 K монотонно возрастают и составляют 250-320. Продемонстрировано, что сформированная в контактном режиме атомно-силового микроскопа путем приложения постоянного напряжения доменная структура пленки BiFeO3 хорошо визуализировалась более 4 часов. Обсуждаются причины выявленных закономерностей. Ключевые слова: тонкие пленки, мультиферроик, феррит висмута, титанат стронция.
  1. G. Catalan, J.F. Scott. Adv. Mater. 21, 24, 2463 (2009)
  2. N. Wang, X. Luo, L. Han, Z. Zhang, R. Zhang, H. Olin, Y. Yang. Nano-Micro Lett. 12, 1, 81 (2020)
  3. P. Laohana, W. Limphirat, K. Srisom, P. Janphuang, W. Meevasana, W. Saenrang. Appl. Phys. Lett. 124, 24, 241601 (2024)
  4. T.-M. Pan, Z.-Y. Chen, W.-C. Weng, J.-L. Her. Phys. B Condens. Matter 689, 416219 (2024)
  5. J. Zhang, J.-Q. Dai, G.-C. Zhang, X.-J. Zhu. Ceram. Int. 50, 16, 28449 (2024)
  6. J.P. Cao, Z.L. Lv, H.W. Wang, J.K. Wu, K. Lin, Q. Li, X. Chen, X.H. Li, Q.H. Li, Y.L. Cao, J.X. Deng, J. Miao. Mater. Today Commun. 37, 107337 (2023)
  7. J. Wang, J.B. Neaton, H. Zheng, V. Nagarajan, S.B. Ogale, B. Liu, D. Viehland, V. Vaithyanathan, D.G. Schlom, U.V. Waghmare, N.A. Spaldin, K.M. Rabe, M. Wuttig, R. Ramesh. Science. 299, 5613, 1719 (2003)
  8. J.X. Zhang, Q. He, M. Trassin, W. Luo, D. Yi, M.D. Rossell, P. Yu, L. You, C.H. Wang, C.Y. Kuo, J.T. Heron, Z. Hu, R.J. Zeches, H.J. Lin, A. Tanaka, C.T. Chen, L.H. Tjeng, Y.-H. Chu, R. Ramesh. Phys. Rev. Lett. 107, 14, 147602 (2011)
  9. Y.H. Chu, L.W. Martin, Q. Zhan, P.L. Yang, M.P. Cruz, K. Lee, M. Barry, S.Y. Yang, R. Ramesh. Ferroelectrics 354, 1, 167 (2007)
  10. D. Sando, A. Barthelemy, M. Bibes. J. Phys. Condens. Matter 26, 47, 473201 (2014)
  11. A.V. Plokhikh, I.A. Karateev, M. Falmbigl, A.L. Vasiliev, J. Lapano, R. Engel-Herbert, J.E. Spanier. J. Phys. Chem. C 123, 19, 12203 (2019)
  12. W.B. Luo, J. Zhu, H.Z. Zeng, X.W. Liao, H. Chen, W.L. Zhang, Y.R. Li. J. Appl. Phys. 109, 10, 104108 (2011)
  13. С.В. Кара-Мурза, К.М. Жидель, Н.В. Корчикова, А.Г. Сильчева, Ю.В. Техтелев, Р.Г. Чижов, А.В. Павленко. Опт. и спектр. 130, 7, 1037 (2022)
  14. А.В. Павленко, Д.В. Стрюков, Ю.А. Кудрявцев, Я.Ю. Матяш, Н.В. Маломыжева. ФТТ 64, 12, 1954 (2022). [A.V. Pavlenko, D.V. Stryukov, Yu.A. Kudryavtsev, Ya.Yu. Matyash, N.V. Malomyzheva. Phys. Solid State 64, 12, 1923 (2022)]
  15. H.В. Макинян, А.В. Павленко. Программа для ЭВМ "LeakMeas", RU 2024680791, (заявл. 13.05.2024; опубл. 03.09.2024)
  16. А.В. Павленко, Я.Ю. Матяш, Д.В. Стрюков, Н.В. Маломыжева. Неорган. материалы 59, 7, 814 (2023)
  17. R. Ranjith, W. Prellier, J.W. Cheah, J. Wang, T.Wu. Appl. Phys. Lett. 92, 23, 222905 (2008)
  18. S.K. Singh, H. Ishiwara, K. Maruyama. J. Appl. Phys. 100, 6, 064102 (2006)
  19. H. Yang, M. Jain, N.A. Suvorova, H. Zhou, H.M. Luo, D.M. Feldmann, P.C. Dowden, R.F. DePaula, S.R. Foltyn, Q.X. Jia. Appl. Phys. Lett. 91, 7, 072911 (2007)
  20. G.W. Pabst, L.W. Martin, Y.-H. Chu, R. Ramesh. Appl. Phys. Lett. 90, 7, 072902 (2007)
  21. A.Z. Simoes, L.S. Cavalcante, C.S. Riccardi, J.A. Varela, E. Longo. Curr. Appl. Phys. 9, 2, 520 (2009)
  22. D. Chen, X. Tan, Y. Zhang, J. Jiang. ACS Appl. Mater. Interfaces 17, 15, 22974 (2025)
  23. Q. Ke, A. Kumar, X. Lou, Y.P. Feng, K. Zeng, Y. Cai, J. Wang. Acta Mater. 82, 190 (2015)
  24. J. Wu, J. Wang, D. Xiao, J. Zhu. J. Am. Ceram. Soc. 94, 12, 4291 (2011)
  25. X. Zou, L. You, W. Chen, H. Ding, D. Wu, T. Wu, L. Chen, J. Wang. ACS Nano 6, 10, 8997 (2012)
  26. S.-H. Baek, S. Choi, T.L. Kim, H.W. Jang. Curr. Appl. Phys. 17, 5, 688 (2017)
  27. D. Misiurev, P. Kaspar, D. Sobola, N. Papev z, S.H. Fawaeer, V. Holcman. Materials (Basel). 16, 8, 3203 (2023)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.