Фотолюминесценция, связанная с дислокациями в кремнии, пластически деформированном при изгибе центральной симметрии
Емцев В.В.1, Соболев H.А.1, Оганесян Г.А.1, Калядин А.Е.1, Топоров В.В.1, Полоскин Д.С.1, Маляренко А.М.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия

Email: emtsev@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 21 мая 2025 г.
В окончательной редакции: 22 мая 2025 г.
Принята к печати: 22 мая 2025 г.
Выставление онлайн: 21 июня 2025 г.
Исследована дислокационная фотолюминесценция в кремниевых пластинах, подвергнутых изгибу центральной симметрии с помощью кольцевого пуансона, который ранее никогда не использовался для этой цели. Оригинальная методика, эффективность которой была продемонстрирована совсем недавно в экспериментах с кремниевыми пластинами при деформации изгиба, позволяет одновременно определять механическое напряжение на растянутой и сжатой сторонах тестовой пластины по заметному сдвигу полосы 520.5 cm-1 в спектрах комбинационного рассеяния света. Пластическая деформация пластины под механической нагрузкой проводилась при температуре T=700 oC в течение одного часа. Показано, что на растянутой стороне тестовой пластины (вне центральной части) проявляются все четыре известные полосы дислокационной люминесценции (далее линии D1-D4) и протяженные дефекты упаковки 113. На сжатой стороне пластины (вне центральной части) отчетливо видны линии D3 и D4, а также линия межзонной люминесценции, но отсутствуют линии D1 и D2. При приближении к центру тестовой пластины с остаточной деформацией линии D3 и D4 преобладают на растянутой и сжатой сторонах, а линия D4 доминирует в самом центре. Таким образом, для кремния, подвергнутого пластической деформации под действием растягивающих и сжимающих напряжений, создаваемых в режиме изгиба центральной симметрии, выявлены существенные изменения в дислокационной фотолюминесценции. Ключевые слова: кремний, изгиб центральной симметрии, пластическая деформация, фотолюминесценция.
- N. Margalit, C. Xiang, S.M. Bowers, A. Bjorlin, R. Blum, J.E. Bowers. Appl. Phys. Lett. 118, 220501 (2021). https://doi.org/10.1063/5.0050117
- Н.А. Соболев, А.Е. Калядин, О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов. Физика и техника полупроводников 55, 7, 550 (2021). https://doi.org/10.21883/FTP.2021.07.51014.9651
- Н.А. Дроздов, А.А. Патрин, В.Д. Ткачев. Письма ЖЭТФ, 23, 11, 651 (1976)
- M. Reiche, M. Kittler. Crystals 6 (7), 74 (2016). https://doi.org/10.3390/cryst6070074
- E.A. Steinman. Physics of the Solid State 47, 5 (2005). https://doi.org/10.1134/1.1853432
- N.A. Sobolev, A.E. Kalyadin, K.F. Shtel'makh, P.N. Aruev, V.V. Zabrodskiy, E.I. Shek. Semiconductors 57, 283 (2023). DOI: 10.61011/SC.2023.04.56427.4810
- E.A. Steinman, V.V. Kveder, V.I. Vdovin, H.G. Grimmeiss. Solid State Phenomena 69-70, 23 (1999). https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.69-70.23
- S. Pizzini, M. Guzzi, E. Grilli, G. Borionetti. Journal of Physics: Condensed Matter 12, 10131 (2000). https://doi.org/10.1088/0953-8984/12/49/312
- A.E. Kalyadin, K.F. Shtel'makh, P.N. Aruev, V.V. Zabrodski, K.V. Karabeshkin, E.I. Shek, N.A. Sobolev. Semiconductors 54, 687 (2020). https://doi.org/10.1134/S1063782620060081
- S. Takeda. Jpn. J. Appl. Phys. 30, L639 (1991). https://doi.org/10.1143/JJAP.30.L639
- L.I. Fedina, A.K. Gutakovskii, A.V. Latyshev, A.L. Aseev. In: Advances in Semiconductor Nanostructures, Growth, Characterization, Properties and Applications, ed by A. Latyshev, A. Dvurechenskii, A. Aseev (Elsevier, Amsterdam, 2016) p. 383
- L. Jeyanathan, E.C. Lightowlers, V. Higgs, G. Davies. Mater. Sci. Forum 143-147, 1499 (1994). https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.143-147.1499
- S. Binetti, S. Pizzini, E. Leoni, R. Somaschini, A. Castaldini, A. Cavallini. J. Appl. Phys. 92, 2437 (2002). https://doi.org/10.1063/1.1497450
- K. Bothe, R.J. Falster, J.D. Murphy. Appl. Phys. Lett. 101, 032107 (2012). https://doi.org/10.1063/1.4737175
- S. Binetti, R. Somaschini, A. LeDonne, E. Leoni, S. Pizzini, D. Li, D. Yang. J. Phys.: Condens. Matter 14, 13247 (2002). https://doi.org/10.1088/0953-8984/14/48/375
- N.A. Sobolev, A.E. Kalyadin, K.F. Shtel'makh, E.I. Shek, V.I. Sakharov, I.T. Serenkov. Semiconductors 56, 390 (2022). DOI: 10.21883/SC.2022.06.53535.9832
- A. Borghesi, B. Pivac, A. Sassella, A. Stella. J. Appl. Phys. 77, 4169 (1995). https://doi.org/10.1063/1.359479
- V.I. Vdovin, L.I. Fedina, A.K. Gutakovskii, A.E. Kalyadin, E.I. Shek, K.F. Shtel'makh, N.A. Sobolev. Crystallography Reports 66, 625 (2021). DOI: 10.1134/s1063774521040210
- G.A. Oganesyan, I.I. Novak. Journal of Surface Investigation, X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques 3, 962 (2009). https://doi.org/10.1134/S1027451009060202
- I.I. Novak, V.V. Baptizmanskii, L.V. Zhoga. Opt. Spectrosc. 43, 145 (1977)
- I.I. Novak, G.A. Oganesyan. Journal of Surface Investigation, X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques 1, 294 (2007). https://doi.org/10.1134/S1027451007030111
- V.V. Emtsev, V.V. Toporov, G.A. Oganesyan, A.A. Lebedev, D.S. Poloskin. Physica B: Condensed Matter 684, 415949 (2024). https://doi.org/10.1016/j.physb.2024.415949
- E. Anastassakis, A. Pinczuk, E. Burstein, F.H. Pollak, M. Cardona. Solid State Communications 8, 133 (1970). https://doi.org/10.1016/0038-1098(70)90588-0
- I.D. Wolf. Semicond. Sci. Technol. 11, 139 (1990). https://doi.org/10.1088/0268-1242/11/2/001
- V. Poborchii, T. Tada, T. Kanayama. Appl. Phys. Lett. 97, 041915 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3474604
- A. Gassenq, S. Tardif, K. Guilloy, I. Duchemin, N. Pauc, J.M. Hartmann, D. Rouchon, J. Widiez, Y.M. Niquet, L. Milord, T. Zabel, H. Sigg, J. Faist, A. Chelnokov, F. Rieutord, V. Reboud, V. Calvo. J. Appl. Phys. 121, 055702 (2017). https://doi.org/10.1063/1.4974202