Вышедшие номера
Унимодальное и бимодальное распределение серебряных наночастиц в a-C : Ag-структурах с различным соотношением sp2/sp3-углерода, изготовленных методом низкоэнергетического ионно-ассистированного импульсно-плазменного осаждения
Завидовский И.А.1, Хайдаров А.А.1, Стрелецкий О.А.1
1Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Email: ia.zavidovskii@physics.msu.ru
Поступила в редакцию: 15 августа 2022 г.
В окончательной редакции: 15 августа 2022 г.
Принята к печати: 19 августа 2022 г.
Выставление онлайн: 27 сентября 2022 г.

Представлены результаты исследования аморфных углеродных покрытий с инкапсулированными серебряными наночастицами (a-C : Ag). Методом просвечивающей электронной микроскопии показано, что введение низкоэнергетического (100-300 eV) ионного ассистирования в процесс импульсно-плазменного осаждения может в различных случаях привести как к унимодальному, так и к бимодальному распределению серебряных включений по размерам. Установлено, что характер распределения определяется мощностью импульсно-плазменного источника. Рассмотрено влияние вариации потока осаждающихся частиц на процесс ионно-индуцированной поверхностной диффузии на поверхности покрытий. Показано, что данный процесс в совокупности с ионно-индуцированным формированием центров зародышеобразования оказывает влияние на характер распределения серебряных включений по размерам. С помощью спектроскопии характеристических потерь энергии электронов установлено, что изменение поверхностной концентрации серебряных наночастиц коррелирует с соотношением sp2- и sp3-гибридизованных атомов углерода. Ключевые слова:импульсно-плазменное напыление; ионная стимуляция; углерод-серебряный композит; бимодальное распределение частиц; соотношение sp2- и sp3-гибридизованного углерода.
  1. M. Constantinou, M. Pervolaraki, P. Nikolaou, C. Prouskas, P. Patsalas, P. Kelires, J. Giapintzakis, G. Constantinides. Surf. Coatings Technol. 309, 320 (2017)
  2. G. Zakariene, A. Novoslavskij, v S. Mev skinis, A. Vasiliauskas, A. Tamuleviv ciene, S. Tamuleviv cius, T. Alter, M. Malakauskas. Diam. Rel. Mater. 81, 118 (2018)
  3. T. Juknius, M. Ruv zauskas, T. Tamuleviv cius, R. v Siugv zdiniene, I. Jukniene, A. Vasiliauskas, A. Jurkeviv ci\=u te, S. Tamuleviv cius. Materials 9, 5, 371 (2016)
  4. T. Juknius, I. Jukniene, T. Tamuleviv cius, M. Ruv zauskas, I. Pampariene, V. Oberauskas, A. Jurkeviv ci\=u te, A. Vasiliauskas, S. Tamuleviv cius. Materials 13, 14, 3180 (2020)
  5. X. Yu, Y. Qin, C.B. Wang, Y.Q. Yang, X.C. Ma. Vacuum 89, 82 (2013)
  6. L.J. Wang, F. Zhang, A. Fong, K.M. Lai, P.W. Shum, Z.F. Zhou, Z.F. Gao, T. Fu. Thin Solid Films 650, 58 (2018)
  7. v S. Mev skinis, T. Tamuleviv cius, G. Niaura, K. v Slapikas, A. Vasiliauskas, O. Ul vinas, S. Tamuleviv cius. J. Nanosci. Nanotech. 16, 9, 10143 (2016)
  8. H. Zoubos, L.E. Koutsokeras, D.F. Anagnostopoulos, E. Lidorikis, S.A. Kalogirou, A.R. Wildes, P.C. Kelires, P. Patsalas. Solar Energy Mater. Solar Cells 117, 350 (2013)
  9. A. Mazare, A. Anghel, C. Surdu-Bob, G. Totea, I. Demetrescu, D. Ionita. Thin Solid Films 657, 16 (2018)
  10. A.V. Kesavan, B.R. Lee, K.R. Son, A.C. Khot, T.D. Dongale, V. Murugadoss, P.C. Ramamurthy, T.G. Kim. ACS Appl. Mater. Interfaces 13, 3, 4284 (2021)
  11. A.A. Voevodin. In: Tribology of Diamond-Like Carbon Films: Fundamentals and Applications/ Eds C. Donnet, ,A. Erdemir. Springer US, Boston, MA (2008). P. 263-281
  12. M. Ferraris, S. Perero, M. Miola, S. Ferraris, E. Verne, J. Morgiel. Mater. Chem. Phys. 120, 1, 123 (2010)
  13. X. Zhu, X. Zhuo, Q. Li, Z. Yang, J. Wang. Adv. Funct. Mater. 26, 3, 341 (2016)
  14. v S. Mev skinis, A. v Ciegis, A. Vasiliauskas, K. v Slapikas, R. Gudaitis, I. Yaremchuk, V. Fitio, Y. Bobitski, S. Tamuleviv cius. Nanoscale Res. Lett. 11, 1, 146 (2016)
  15. A. Jurkeviv ci\=ute, G. Klimaite, T. Tamuleviv cius, J. Fiutowski, H.-G. Rubahn, S. Tamuleviv cius. Adv. Eng. Mater. 22, 3, 1900951 (2020)
  16. T. Tamuleviv cius, A. Tamuleviv ciiene, D. Virganaviv cius, A. Vasiliauskas, V. Kopustinskas, v S. Mev skinis, S. Tamuleviv cius. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 341, 1 (2014)
  17. I.A. Zavidovskiy, O.A. Streletskiy, O.Yu. Nishchak, A.A. Haidarov, A.V. Pavlikov. Thin Solid Films. 738, 138966 (2021)
  18. M. Aleksandrova, G. Kolev, G. Dobrikov, A. Brigadin, A. Lukin. Nanomaterials 12, 12, 2066 (2022)
  19. M. Aleksandrova, G. Kolev, A. Brigadin, A. Lukin. Crystals 12, 4, 501 (2022)
  20. D.G. Piliptsou, A.V. Rogachev, A. Rudenkov, E. Kulesh, A. Luchnikov. KEM 781, 53 (2018)
  21. A. Lukin, O. Golseren. Nanomaterials 12, 7, 1041 (2022)
  22. И.А. Завидовский, О.Ю. Нищак, Н.Ф. Савченко, О.А. Стрелецкий. ЖЭТФ 161, 6, 803 (2022)
  23. O.A. Streletskiy, I.A. Zavidovskiy, O.Yu. Nischak, S.V. Dvoryak. Thin Solid Films 701, 137948 (2020)
  24. И.А. Завидовский, O.A. Стрелецкий, О.Ю. Нищак, A.A. Хайдаров. ФТТ 61, 11, 2244 (2019)
  25. O.A. Streletskiy, I.A. Zavidovskiy, O.Yu. Nischak, A.V. Pavlikov. Thin Solid Films 671, 31 (2019)
  26. O.A. Streletskiy, I.A. Zavidovskiy, O.Yu. Nischak, A.A. Haidarov. Vacuum 175, 109286 (2020)
  27. D. Nev cas, P. Klapetek. Open Phys. 10, 1, 181 (2012)
  28. N. Otsu. IEEE Transact. Systems, Man, Cybernet. SMC-9, 1, 62 (1979)
  29. B. Schultrich. Tetrahedrally Bonded Amorphous Carbon Films I. Basics, Structure and Preparation. Springer Berlin Heidelberg, Berlin, Heidelberg (2018). P. 195-272
  30. H. Biederman, K. Kohoutek, Z. Chmel, V. Stary, R. Howson. Vacuum 40, 3, 251 (1990)
  31. K. Reichelt, X. Jiang. Thin Solid Films 191, 1, 91 (1990)
  32. N. Laegreid, G.K. Wehner. J. Appl. Phys. 32, 3, 365 (1961)
  33. Н.Г. Рябцев. Материалы квантовой электроники. Сов. радио, М. (1972). С. 56-59
  34. I.I. Tashlykova-Bushkevich, J.S. Yakovenko, I.A. Bushkevich. Int. J. Nanosci. 18, 03n04, 1940062 (2019)
  35. J. Carpena-Nunez, R. Rao, D. Kim, K.V. Bets, D.N. Zakharov, J.A. Boscoboinik, E.A. Stach, B.I. Yakobson, M. Tsapatsis, D. Stacchiola, B. Maruyama. Small 16, 38, 2002120 (2020)
  36. W. Tillmann, N.F. Lopes Dias, D. Stangier, A. Nienhaus, C.A. Thomann, A. Wittrock, H. Moldenhauer, J. Debus. Diam. Rel. Mater. 105, 107803 (2020)
  37. Р.А. Садыков, А.А. Ширяев, А.Г. Гаврилюк, И.Р. Садыкова, Б.А. Кульницкий, В.Д. Бланк, Ю.Б. Лебедь, Э.А. Коптелов. Поверхность 10, 64 (2016).
  38. J. Kulik, G.D. Lempert, E. Grossman, D. Marton, J.W. Rabalais, Y. Lifshitz. Phys. Rev. B 52, 22, 15812 (1995)
  39. D.L. Pappas, K.L. Saenger, J. Bruley, W. Krakow, J.J. Cuomo, T. Gu, R.W. Collins J. Appl. Phys. 71, 11, 5675 (1992)
  40. A.J. Papworth, C.J. Kiely, A.P. Burden, S.R.P. Silva, G.A.J. Amaratunga. Phys. Rev. B 62, 19, 12628 (2000)
  41. O.A. Streletskiy, I.A. Zavidovskiy, V.V. Sychev, A.A. Dudin, S.A. Savinov, A.V. Pavlikov. Appl. Phys. A 128, 1, 83 (2022)
  42. D. D'Angelo, C. Bongiorno, M. Amato, I. Deretzis, A. La Magna, E. Fazio, S. Scalese. J. Phys. Chem. C 121, 9, 5408 (2017)
  43. X. Chen, X. Wang, D. Fang. Fuller. Nanotub. Carbon Nanostructures 28, 12, 1048 (2020)
  44. B. Lesiak, L. Kover, J. Toth, J. Zemek, P. Jiricek, A. Kromka, N. Rangam. Appl. Surf. Sci. 452, 223 (2018)
  45. S. Wang, K. Komvopoulos. Sci. Rep. 11, 1, 3914 (2021)
  46. M.A. Caro, V.L. Deringer, J. Koskinen, T. Laurila, G. Csanyi. Phys. Rev. Lett. 120, 16, 166101 (2018)
  47. M. Kehrer, J. Duchoslav, A. Hinterreiter, M. Cobet, A. Mehic, T. Stehrer, D. Stifter. Plasma Process Polym 16, 4, 1800160 (2019)
  48. J. Liu, R. Xu, Y. Zhu, D.-Q. Yang, H.-Y. Nie, W.M. Lau. Appl. Sci. 12, 12, 6233 (2022)
  49. S. Xu, D. Flynn, B.K. Tay, S. Prawer, K.W. Nugent, S.R.P. Silva, Y. Lifshitz, W.I. Milne. Phil. Mag. B 76, 3, 351 (1997)
  50. Y. Wu, H. Li, L. Ji, L. Liu, Y. Ye, J. Chen, H. Zhou. Proc. Inst. Mech. Eng. J: J. Eng. Tribol. 227, 7, 729 (2013)
  51. Z. Wang, C. Wang, B. Zhang, Q. Wang, J. Zhang. Surf. Interface Anal. 43, 9, 1218 (2011)
  52. И.А. Буяновский, М.М. Хрущов, В.Д. Самусенко. Материаловедение 9, 3 (2021)
  53. И.А. Буяновский, М.М. Хрущов, В.Д. Самусенко. Материаловедение 10, 3 (2021)
  54. J. Zemek, J. Houdkova, P. Jiricek, M. Jelinek. Carbon 134, 71 (2018).

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.