Вышедшие номера
Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
Переводная версия: 10.1134/S1063783419080079
Асадчиков В.Е.1, Дьячкова И.Г.1, Золотов Д.А.1, Чуховский Ф.Н.1, Сорокин Л.М.2
1Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
2Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: sig74@mail.ru
Поступила в редакцию: 22 марта 2019 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2019 г.

Представлены результаты исследования методом трехкристальной рентгеновской дифрактометрии (ТРД) состояния нарушенного слоя в кристаллах кремния, сформированного путем имплантации ионов водорода с энергиями 100+200+300 keV, с общей дозой 2·1016 cm-2 при последующей термической обработке в интервале температур от 200 до 1100oC. Рентгеновские исследования в данной работе проводились методом ТРД в схеме, когда исследуемый образец выступает в качестве второго неподвижного кристалла с различными фиксированными угловыми отстройками alpha от положения Брэгга, а третий (совершенный) кристалл-анализатор осуществляет развертку углового распределения излучения, дифрагированного вторым кристаллом. Из сравнения формы дифракционных и диффузных максимумов для исследуемых образцов был сделан качественный вывод о значительной трансформации радиационных дефектов в процессе постимплантационного отжига. Ключевые слова: кремний, ионы водорода, трехкристальная рентгеновская дифрактометрия, радиационные дефекты, постимплантационный отжиг.
  1. M. Bruel. Electron. Lett. 31, ( 14), 1201 (1995)
  2. I.E. Tyschenko, V.P. Popov. Adv. Semicond. Nanostruct. 17, 409 (2017)
  3. А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев. Наука, М. (1989). 152 с
  4. В.Б. Молодкин, С.И. Олиховский, М.Е. Осиновский, В.В. Кочелоб, А.Ю. Казимиров, М.В. Ковальчук, Ф.Н. Чуховский. Металлофизика 6, 3, 7 (1984)
  5. А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов. Наука, М. (1986). 153 с
  6. А.М. Афанасьев, М.В. Ковальчук, Э.Ф. Лобанович, Р.М. Имамов, П.А. Александров, М.К. Мелконян. Кристаллография 26, 1, 28 (1981)
  7. М.А. Кривоглаз. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах. Наук. думка, Киев (1983). 407 с
  8. С.С. Горелик, Л.Н. Расторгуев, Ю.А. Скаков. Рентгенографический и электроннооптический анализ: Приложения. Металлургия, М. (1970). 108 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.