Издателям
Вышедшие номера
Рентгеноэмиссионное исследование электронной структуры нанокристаллического Al2O3
Зацепин Д.А.1, Черкашенко В.М.1, Курмаев Э.З.1, Шамин С.Н.1, Федоренко В.В.1, Скориков Н.А.1, Пластинин С.В.1, Гаврилов Н.В.2, Медведев А.И.3, Чолах С.О.3
1Институт физики металлов им. М.Н. Михеева Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
2Институт электрофизики Уральского отделения Российской академии наук, Екатеринбург, Россия
3Уральский государственный технический университет, Екатеринбург, Россия
Email: d_zatsepin@ifmlrs.uran.ru
Поступила в редакцию: 16 февраля 2004 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2004 г.

Исследованы валентные состояния ионов металла и фазовый состав нанокристаллического Al2O3 (исходного оксида и оксида, подвергнутого облучению высокоэнергетичными ионами Fe+) при помощи рентгеновских эмиссионных Al L2,3 и O Kalpha спектров. Установлено,что форма Al L2,3 спектров сильно варьируется при переходе от исходного (массивного) Al2O3 к нанокристаллическому оксиду. В то же время O Kalpha спектры остаются практически неизменными. Кроме того, облучение высокоэнергетичными ионами Fe+ приводит к незначительным дополнительным изменениям в рентгеноспектральных характеристиках исследовавшихся оксидов алюминия. Полученные экспериментальные данные сопоставлены с результатами теоретических расчетов электронной структуры alpha- и gamma-фаз Al2O3, выполненных в рамках LDA-формализма. На основе результатов рентгеноспектральных исследований, расчетов электронной структуры и рентгенодифракционного анализа показано, что обнаруженные спектральные отличия нанокристаллического состояния оксида алюминия от массивного следует интерпретировать как фазовый переход из alpha-фазы в gamma-фазу Al2O3 с частичной добавкой байерита.
  • А.И. Гусев, А.А. Ремпель. Нанокристаллические материалы. Физматлит. М. (2001)
  • Y. Ishida, H. Ichinose, T. Kizuka, K. Suenaga. Nanostruct. Materials 6, 1--4, 115 (1995)
  • Н.А. Торопов, В.П. Барзаковский, И.А. Бондарь, Ю.П. Удалов. Диаграммы состояния силикатных систем. Наука, Л. (1970)
  • I.P. Batra. J. Phys. C 15, 5399 (1982)
  • Y.-N. Xu, W.Y. Ching. Phys. Rev. B 43, 4461 (1991)
  • D.A. Zatsepin, V.R. Galakhov, B.A. Gizhevskii, E.Z. Kurmaev, V.V. Fedorenko, A.A. Samokhvalov, S.V. Naumov. Phys. Rev. B 59, 211 (1999)
  • B.A. Gizhevskii, V.R. Galakhov, D.A. Zatsepin, L.V. Elokhina, T.A. Belykh, E.A. Kozlov, S.V. Naumov, V.L. Arbuzov, K.V. Shal'nov, M. Neumann. Phys. Sol. Stat. 44, 1380 (2002)
  • O.K. Anderson. Phys. Rev. B 12, 3060 (1975)
  • I.V. Beketov, Yu.A. Kotov, A.M. Murzakaev, O.V. Samatov, V.P. Volkov, R. Buhme, G. Schumacher. Materials Science Forum / Ed. by R. Schulz. Trans. Publications, Switzerland (1995). Vol. 225--227. P. 913
  • I.G. Brown. Rev. Sci. Instrum. 65, 3061 (1994)
  • E.Z. Kurmaev, V.V. Fedorenko, S.N. Shamin, A.V. Postnikov, G. Wiech, Y. Kim. Phys. Scr. T 41, 288 (1992)
  • V.V. Fedorenko, V.R. Galakhov, L.V. Elokhina, L.D. Finkelstein, V.E. Naish, S.M. Butorin, E.J. Nordgren, A.K. Tyagi, U.R.K. Rao, R.M. Iyer. Physica C 221, 71 (1994)
  • H. Sawada. Mater. Research Bull. 29, 2, 127 (1994)
  • E.J.W. Verwey. Z. Kristallogr. Kristallgeometr. Kristallphys. Kristallchem. 91, 317 (1935)
  • A. v Simunek, G. Wiech. Z. Phys. B 93, 51 (1993)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.