Физика твердого тела

Авторам

Правила оформления публикаций

Вышедшие номера

2024
- 1 2 3
2023
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2022
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2021
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2020
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2019
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2018
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2017
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2016
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2015
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2014
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2013
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2012
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2011
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2010
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2009
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2008
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2007
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2006
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2005
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2004
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2003
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2002
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2001
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
2000
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1999
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1998
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1997
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1996
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1995
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1994
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1993
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1992
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1991
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1990
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1989
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1988
- 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12

Осаждение текстурированных пленок NiFe(200) и NiFe(111) на подложки Si/SiO₂ магнетронным распылением на постоянном токе

Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 16-37-60052

Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 16-57-00153

Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 14-07-00549

Джумалиев А.С.^1,2, Никулин Ю.В. ^1,2, Филимонов Ю.А.^1,2,3

¹Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, Саратов, Россия Saratov State University, Saratov, Russia

Saratov State University, Saratov, Russia

²Саратовский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Саратов, Россия Saratov Branch, Kotel’nikov Institute of Radio Engineering and Electronics, Russian Academy of Sciences, Saratov, Russia

Saratov Branch, Kotel’nikov Institute of Radio Engineering and Electronics, Russian Academy of Sciences, Saratov, Russia

³Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А., Саратов, Россия Yuri Gagarin State Technical University of Saratov, Saratov, Russia

Yuri Gagarin State Technical University of Saratov, Saratov, Russia

Email: dzhas@yandex.ru, yvnikulin@gmail.com

Поступила в редакцию: 27 октября 2015 г.

Выставление онлайн: 19 апреля 2016 г.

PDF версия

Абстракт
Литература
Статистика просмотров

Исследовано влияние температуры T_sub и напряжения смещения U_bias подложки на текстуру пленок NiFe с толщиной d~ 30-340 nm, полученных магнетронным распылением на постоянном токе на подложках Si(111)/SiO₂ при давлении рабочего газа P~0.2 Pa. Показано, что пленки, выращенные при комнатной температуре подложки, имеют текстуру (111), которая улучшается при отрицательном напряжении смещения. Осаждение пленок на заземленную (U_bias~ 0) подложку, нагретую до температуры T_sub~ 440-640 K, приводит к формированию текстурированных пленок NiFe(200). Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (гранты N 13-07-01023, 14-07-31107, 14-07-00549).

Electrochemical nanotechnologies / Eds T. \=Osaka, M. Datta, Y. Shacham-Diamand. Springer (2009). 279 p
Б.Г. Лившиц, В.С. Крапошин, Я.Л. Линецкий. Физические свойства металлов и сплавов. Металлургия, М. (1980). 318 с
E. Klokholm, J.A. Aboaf. J. Appl. Phys. 52, 2474 (1981)
V.V. Kruglyak, S.O. Demokritov, D. Grundler. J. Phys. D 43, 264 001 (2010)
T.L. Hylton, K.R. Coffey, M.A. Parker, J.K. Howard. Science 261, 1021 (1993)
G.A. Prinz. Science 282, 1660 (1998)
L. Haifeng. M. Jidong, Y. Guanghua, L. Shibin, Z. Hongchen, Z. Femgwu. Chin. Sci. Bull. 48, 1087 (2003)
K. Yamanoi, S. Yakata. T. Kimura, T. Manago. Jpn. J. Appl. Phys. 52, 083 001 (2013)
H. Funaki, S. Okamoto, O. Kitakami, Y. Shimada. Jpn. J. Appl. Phys. 33, L1304 (1994)
J.C.A. Huang, T.E. Wang, C.C. Yu, Y.M. Hu, P.B. Lee, M.S. Yang. J. Cryst. Growth 171, 442 (1997)
H. Gong, M. Rao, D.E. Laughlin, D.N. Lambeth. J. Appl. Phys. 85, 5750 (1999)
I. Hashim, H.A. Atwater. J. Appl. Phys. 75, 6516 (1994)
O.D. Roshchupkina, T. Strache, J. McCord, A. Mucklich, C. Nahtz, J. Grenzer. Acta Mater. 74, 278 (2014)
Y.-Y. Chen, C.-W. Chen, T.-H. Wu. Appl. Surf. Sci. 351, 946 (2015)
А.С. Джумалиев, Ю.В. Никулин, Ю.А. Филимонов. Наноинженерия 2, 24 (2013)
А.С. Джумалиев, Ю.В. Никулин, Ю.А. Филимонов. Письма в ЖТФ 39, 21, 10 (2013)
Ю.В. Никулин. Автореф. канд. дис. Саратов. филиал Ин-та радиотехники и электроники РАН, Саратов (2014). 21 с
Y.C. Feng, D.E. Laughlin, D.N. Lambeth. J. Appl. Phys. 76, 7311 (1994)
Z. Li, H. Xu, S. Gong. J. Phys. Chem. B 108, 15 165 (2004)
Л.М. Ковба, В.К. Трунов. Рентгенофазовый анализ. Изд-во МГУ, М. (1976). 183 с
G. Nahrwold, J.M. Scholtyssek, S. Motl-Ziegler, O. Albrecht, U. Merkt, G. Meier. J. Appl. Phys. 108, 013 907 (2010)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель