Вышедшие номера
Зависимость спектров носителей заряда от концентрации дефектов в теллуриде серебра
Алиев Ф.Ф.1, Эминова В.И.1
1Институт физики Национальной академии наук Азербайджана, Баку, Азербайджан
Email: farzali@physics.ab.az.
Поступила в редакцию: 12 января 2015 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2015 г.

Рассмотрено изменение ширины запрещенной зоны в зависимости от концентрации электрически активных дефектов в телллуриде серебра. Установлено, что электроотрицательные дефекты приводят к увеличению ширины запрещенной зоны varepsilong0, а электроположительные дефекты - к уменьшению varepsilong0. Выявлено, что в Ag2Te при добавках ≥0.75 аt.% Те величина varepsilong0 оказалась необычно малой (~0.008 eV). Если учесть ее температурную зависимость varepsilong=(0.008-7·10-5T) eV, то при T>100 K имеет место бесщелевое состояние. За счет изменения концентрации электроактивных дефектов теллурид серебра приобретает n- и p-тип проводимости в отличие от другиx халькогенидов серебра (Ag2S и Ag2Sе).